1) proportion of conformance
产出合格率
1.
A new kind of process capability index (PCI) named C_(pc) was introduced, which was derived based on the proportion of conformance of the process.
介绍了一种基于加工过程产出合格率的过程能力指数Cpc,并推导了Cpc指数与过程合格率之间的弹性系数。
2) yield without rework
投入产出一次合格率
4) product qualification ratio
产品合格率
1.
The concepts of raw material utilization ratio,product yield ratio,product qualification ratio as well as the importance for the enterprise are discussed.
本文阐述了肉制品生产中原料利用率、产品出品率和产品合格率的概念及其在企业中的重要性。
5) the qualified rate of products
产品合格率
1.
The paper introduce the forecasting and relative degree method of grey systems theory to the quality management area, set up a GM forecasting model for the qualified rate of products and the time intervals of the quality catestrophe.
将灰色系统理论中的预测与关联度理论引入产品质量控制领域，建立了产品合格率产品质量突变区间的ＧＭ预测模型以及产品质量影响因素的关联度诊断分析模型，提出了ＧＭＰｔＣ图，并给出了一个应用案例，为产品质量的预报控制与因素诊断提供了有效分析方法与工
2.
According to the level of the qualified rate of products in the course of the producing texitle products, this artide determines the control limit of control chart,works out the coefficient through the living example.
根据纺织工业的产品合格率水平，确定生产过程控制图的控制界限，并结合实例计算出了对应的数值。
6) recombination-generation rate
复合-产出率
1.
Thesimulator, considering the special structure of SOI devices, studies the influencesof recombination-generation rate on parameters of internal devices and analyzesthe back-gate effect and the principle of Kink effect of Ⅰ-Ⅴ characteristics.
这个模型从SOI器件的特殊结构出发,着重考虑了复合-产出率对器件内部参数的影响,分析了SOI-MOSFET器件的背栅效应以及I-V特性的扭曲(Kink)效应产生的机理。
补充资料：不合格品率控制图(p图)
不合格品率控制图(p图)
control charts for fraction defective
buhsgePinIO kongzhitu不合格品率控制图《p图)(cootrol chaztsfor俪ction de公兑tive)利用样本的一定类型的不合格品率(川，评估和监察过程的控制图，也是计数型控制图中最常用的控制图。计数数据往往能够快速而较便宜地取得，一般也不需要特别的收集技巧。计数型控制图的参数均值(产)与标准差(的是互相关的:例如，样本不合格品率(川的均值巧=p，标准差丐二石可下不下石，式中尸为过程或总体的平均不合格品率，。为样本大小。确定产，、凡中的一个就等于确定另一个，故只有一个独立的参数，即总体平均不合格品率p，因此，控制不合格品率(p)仅一张控制图就足够了。p图用于控制对象为不合格品率或合格品率等计件值的场合。常见的不良率有不合格品率、废品率、交货延迟率、缺勤率、差错率等。 p图的控制界限也是从休哈特控制图控制界限的总公式，即休哈特的3。方式导出的，具体如下:UCL二P+3_户，。丫六，一户，。CL二PoPLCL二P一3了P(l一P)/n了P(l一P)In。户一3丫户(:一户)/n式中:UCL为上控制限，比L为下控制线，CL为中心线，笋为总体平均不合格品率p的估计值，通常久。所有不合格品数厂“厂二一班看释魂礴「一 由于在p图的上下控制界限uCL、优L公式中含有样本大小n，故当n变化时，p图的上下控制界限呈凹凸状，不但作图难，而且更重要的是在p图上难于判断异常，也难于判断稳定。这时采用通用拉制图，可以克服上述困难。下页左图是一个实例的p图与不合格品数通用控制图(pn;图)的对比。(孙静)
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参考词条