补充资料：Χ射线晶体学

Χ射线晶体学
X-ray crystallography

　　垂直于晶面h00一势b单位晶胞、、\气豁二2=3二4=b200 300 400 500、、\ \ \垂直于晶、原点 /二 001倒易点阵、.宙札0l0面图1倒易点阵┌─────────────────┐│价农不衍射弋 │├─────────────────┤│ 〔岁.盗贯‘易: ││ 一之澳过，夏点阵、’│└─────────────────┘图2倒易空间的反射球黑点代表倒易点阵点。当任何倒易点阵点hkl切割反射球时发生衍射，例如P点射线衍射元件和灵敏、可靠的探测器，例如盖革计数器、闪烁计数器和正比计数器。由于从晶体收集强度要满足更快和更准的要求(特别是从蛋白质，由于其不稳定性和必须记录的大量数据)，这种近代手段又渐渐回到使用计数器技术作直接记录。有商品出售的自动衍射计利用使晶体运动与探测器同步的计算电路，有效地革新了从晶体收集数据，因而每天能够得到200一100。以上的衍射束，误差因数小于5%。 结构分析虽然晶胞的尺寸和形状决定衍射极大值的几何形状，但每一反射的强度却决定于晶胞内原子的数目、特性和分布。结构分析的第二阶段是解决这些衍射束之间的相位关系(也就是相位问题)，由此可以得到一种正确的尝试结构。每一衍射束的强度与其振幅的平方有关(I、‘一k}F、z}’，其中}F，，}为观察到的结构因数的振幅)。每一衍射束不仅具有一个特征强度，而且具有一个特征相角a*，以表明这一衍射束与其他衍射束共平面的程度。 因为电子密度是实的正量，而且在晶体中连续和周期地变化，所以电子的散射密度爪划z)可以由三维的傅里叶级数导出，如下式所示:*(Xyz，一令岑不习%26Z{ ·eos{2沉(hx+k夕+12)一ah，，}，(1)其中爪xyz)代表在体积为V的晶胞中分数坐标为x，y，z的任何一点处的电子密度。因而，如果已知每一衍射束的特征振幅}凡，，}和它的相位矶、，就能够计算在晶胞中分数栅点处的电子密度。一个适当相位的三维电子密度图，能有效地提供表征晶胞中原子直接像的峰。在X射线晶体学中之所以发生相位问题，是因为实验测量中只给出结构因数的大小·1435.{F、小而不是相位。、，。因而，结构分析包括利用观察到的振帕来研究特征相位，以便得到一个三维电子密度图，从而决定晶体结构。

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