1) INSAR
干涉测高
1.
Height-Measure Accuracy of INSAR in Spaceborne Parasitic SAR System and Flying Formation Design;
主星带伴随小卫星编队SAR系统干涉测高精度与编队构形设计
2) Height measurement of inSAR
SAR干涉测高
3) interference measurement
干涉测量
1.
Frequency modulation methods of laser diode used in nanometer-accuracy interference measurement;
纳米精度干涉测量中半导体激光器的光频调制方法
2.
As an absolute measurement for the homogeneity of optical glass,the interference measurement is widely used because it can eliminate the form errors of both the interferometer reference surface and the part to be measured.
在光学透射材料均匀性测量的各个方法中,干涉测量方法作为绝对测量方法,能摈除干涉仪标准面及待测元件的面形影响,具有很高的测量精度而逐渐被广泛使用。
3.
It can be used to carry out interference measurement, and at the same time can be prevent reflected light from returning into the laser source to stabilize the source as an isolator does, thus the measurement accuracy can be guaranteed.
既可以进行干涉测量,又具有隔离器功能,可以防止反射光回到光源,使光源保持稳定,确保了测量精度。
4) Interferometry
[,intəfiə'rɔmitri]
干涉测量
1.
Code-bar grade rod measurement by vision collimation and laser interferometry;
视觉瞄准激光干涉测量编码型水准尺
2.
The effect of air heterogeneity to interferometry on rotating carrier;
旋转载体上空气非均匀性对干涉测量影响的研究
3.
Driver circuit of semiconductor laser for interferometry;
干涉测量用半导体激光器驱动电源
5) interference detection
干涉检测
1.
Collision interference detection based on relative position in virtual assembly;
虚拟装配中基于相对于位置的碰撞干涉检测
6) interferometric testing
干涉检测
1.
Error-separation model for interferometric testing aspheric surfaces based on wavefront aberrations;
波像差法构建非球面干涉检测的误差分离模型
2.
Furthermore,based on the interferometric testing system,an analysis on the testing accuracy of the designed null corrector focused on the adjustment errors is made,and e.
利用零补偿器实施非球面元件面形干涉检测过程中,着重分析调整误差对检验精度的影响,建立误差标定模型。
补充资料：测长干涉仪
测长干涉仪
interferometer for length measurement
Cechang gansheyi测长干涉仪(interferometer for length~ure-叮峪nt)用于长度精密测量的干涉仪的总称。随着测量对象和测量不确定度的不同，测长干涉仪的结构和类型也各不相同。其基本原理是使被测长度与干涉仪中两光路的光程差相联系，并通过干涉仪的干涉图像或干涉图像的变化对光程差进行测量而得到被测长度，即以十分小的光“波长”为尺子测量长度。它等于对应于被测长度的干涉级次与光半波长之乘积。依测t方法可分为两大类:干涉条纹计数法和小数重合法。干涉条纹计数法采用电子计数技术得出对应于被测长度的干涉级次，不足一条干涉条纹的小数部分则忽略不计;小数重合法则采用几种不同的波长测l干涉级次的小数部分，并计算得到干涉级次的整数部分。干涉仪的结构和测量环境条件对测量结果均有影响，故必须对测t结果进行修正，最后得到被测长度。例如，干涉仪人射光孔的修正，以及空气的压强、温度、湿度对光波长的影响的修正等。(倪育才)
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条