1) Exact fraction method
小数重合法
1.
In the traditional exact fraction method for the first grade gauge.
02μm+10~(-6)L)进行小数重合法测量,且无需对被测量块进行预测。
2) excess fraction method
小数重合法
1.
Profilometry based on the improved nonlinear excess fraction method;
基于改进的非线性小数重合法的轮廓测量
2.
For the first time excess fraction method is introduced into the measurement of optical path difference.
第一次将小数重合法应用于非真空的长度测量中;通过对于涉仪温度系数的测量,结合单模光纤的色散特性,采用逐步近似的办法,提高了测量精度。
3.
A novel temporal phase unwrapping algorithmnon linear excess fraction method (NLEFM) is proposed, which may extend the reliable measuring range by a factor of dozens without losing accuracy.
本文提出了一种新型的时域叠相还原算法 非线性小数重合法， 这种新方法可以将可靠测量范围扩大数十倍， 而不失测量精度。
3) decimal matching method
小数符合法
4) simultaneous algebraic reconstruction technique (SART)
联合代数重建法
5) minimal combination in repeat array(MCRA)
重复数列中最小组合
6) Minimal multiplicity
极小重数
补充资料：套刻重合
分子式：
CAS号：
性质：晶片上每一点定义的矢量，这是基片几何图形的矢量位置和套刻图形(可以由光致抗蚀剂组成)相应点矢量位置之间的差称作。= 。
CAS号：
性质：晶片上每一点定义的矢量，这是基片几何图形的矢量位置和套刻图形(可以由光致抗蚀剂组成)相应点矢量位置之间的差称作。= 。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条