1) surface coverage of sample
试件表面覆盖率
3) test coverage
测试覆盖率
1.
Namely,the method and optimization works applied here greatly improve DFT quality and its test coverage.
介绍了VLSI芯片的测试技术及故障模型,针对一款数字电视接收系统解调芯片,从设计中不同的阶段分析了集成电路的可测试性设计及其优化,解决了由于集成大量存储器引起的测试覆盖率低的问题,完成了该芯片满足时序要求的可测试性设计及优化过程,达到了流片要求。
2.
With the increasing enhancement of chip indensity and progress of manufacture technology,new test methodologies and fault models need to be developed to meet the target of high test coverage and product yield.
随着芯片集成度的持续提高以及制造工艺的不断进步,对测试覆盖率和产品良率的严格要求,需要研究新的测试方法和故障模型。
3.
This paper presents a method,which uses metaheuristic search techniques for test date generation,to improve test coverage for the part of low probability to be executed in the programme under test.
这种方法能够针对测试中低概率执行部分产生测试数据,提高测试覆盖率,并通过实验举例说明了该方法的可行性。
5) surface ground coverage
地表覆盖率
6) statistical event coverage
事件覆盖率
补充资料：表面覆盖度
分子式：
CAS号：
性质：在吸附平衡时，吸附剂表面被吸附质粒子覆盖的分数，常用θ表示。对于单层的吸附，θ=V/Vm，V是平衡吸附量，Vm是单分子层饱和吸附量。
CAS号：
性质：在吸附平衡时，吸附剂表面被吸附质粒子覆盖的分数，常用θ表示。对于单层的吸附，θ=V/Vm，V是平衡吸附量，Vm是单分子层饱和吸附量。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条