1) scanned-cantilever
针尖扫描
1.
A design of optical tracking that can be applied to scanned-cantilever atomic force microscope(AFM) is proposed.
提出了一种用于针尖扫描原子力显微镜(AFM)的光点跟踪设计方案,结构简单,容易实现。
2) scanning tunneling microscope (STM) tip
扫描隧道显微镜(STM)针尖
3) scanning probe
扫描探针
1.
Nano-scale images have been obtained using scanning probe micooscopy.
扫描探针显微技术已在纳米甚至原子级的形貌获取中得到了广泛地应用。
2.
Scanning probe microscopy can be used not only as a microscopical tool of high precision,but also as a lithographical tool to sample.
扫描探针显微镜(SPM)作为高精度显微工具的同时,还可以作为加工工具对样品表面进行刻蚀加工。
4) optical probe scan
光针扫描
5) scan pointer
扫描指针
6) needle scanner
针扫描器
补充资料：扫描电子显微镜(见扫描电子显微术)
扫描电子显微镜(见扫描电子显微术)
scanning eleetron mieroseoPe
扫描电子显微镜scanning eleetron mieroseope见扫描电子显微术。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条