1) NiCr thin-film resistor
镍铬薄膜电阻
1.
5 k? NiCr thin-film resistors was measured.
5k?镍铬薄膜电阻器分别在生产完成和1000h老化试验之后进行了低频噪声测量和分析得到器件低频噪声特征,结合电子元器件低频噪声理论探讨了器件中各种噪声成分的来源及产生机制并给出该镍铬薄膜电阻生产线降低噪声的工艺手段。
2) Ni film resistor
镍薄膜电阻
4) Cr-Si thin film resistor
铬硅电阻薄膜
5) CuNi resistive film
铜镍电阻薄膜
1.
The influence of aluminum contents on the microstructures and electrical properties of CuNi resistive films;
铝含量对铜镍电阻薄膜结构及电性能的影响
6) nickel chromium resistor
镍铬电阻器
补充资料:铬硅电阻薄膜
分子式:
CAS号:
性质:以铬和硅为主成分的薄膜高阻材料。具有电阻率高、稳定性好、电阻温度系数小等特点。控制硅化物结构,可得到各种电性能材料。如随铬增加,电阻率下降,电阻温度系数可从负数逐渐变到正值,一般方阻3~5kΩ,电阻温度系数(100~150)×10-6/℃。采用溅射、电子束蒸发、真空蒸镀等方法制取,主要用于制作薄膜混合集成电路中的薄膜电阻器。
CAS号:
性质:以铬和硅为主成分的薄膜高阻材料。具有电阻率高、稳定性好、电阻温度系数小等特点。控制硅化物结构,可得到各种电性能材料。如随铬增加,电阻率下降,电阻温度系数可从负数逐渐变到正值,一般方阻3~5kΩ,电阻温度系数(100~150)×10-6/℃。采用溅射、电子束蒸发、真空蒸镀等方法制取,主要用于制作薄膜混合集成电路中的薄膜电阻器。
说明:补充资料仅用于学习参考,请勿用于其它任何用途。
参考词条