2) the total number of surface charges
表面电荷总量
3) charge measuring instrument
电荷测量仪表
4) surface charge
表面电荷
1.
Effects of pretreatment of chrysotile by three compounds on the crystal lattice structure and the surface charge of chrysotile;
三种化合物浸泡处理对石棉晶格结构和表面电荷的影响
2.
Effect of electret on cell growth and surface charge in fibroblast cells;
驻极体对成纤维细胞生长和表面电荷的影响(英文)
3.
Experimental study on surface charge properties of sediment particles and their effect on dry-bulk density;
泥沙颗粒表面电荷特性及其对干容重影响试验研究
5) surface charges
表面电荷
1.
The total charges and surface charges of kraft softwood bleached pulp, softwood mechanical pulp, waste pulp and reed chemical pulp were determined.
分析了漂白针叶木化学浆、针叶木机械浆、再生浆和漂白芦苇化学浆的总电荷、表面电荷量 。
2.
Four pulps were sieved to long, middle and short fiber, and total charges and surface charges of the each fiber constituent were determined.
分析了漂白马尾松化学浆、漂白芦苇化学浆、马尾松热磨机械浆和废纸浆的长、中、短纤维含量以及它们的总电荷量和表面电荷量。
3.
For further study of the generation and properties of surface charges on polyimide(PI),surface charges in micro-nanometer scales were generated by frictionating the PI films using the conductive probe of Dimension 3100 scanning probe microscopy(SPM).
为进一步研究聚合物电介质材料聚酰亚胺表面电荷的生成规律和特性,利用Dimension 3100型扫描探针显微镜在微纳米尺度下对聚酰亚胺表面进行摩擦产生了电荷,并用静电力显微镜观察了电荷的消散过程。
6) surface electric charge
表面电荷
1.
Effect of organic matter content on surface electric charge and NH-4~+ adsorption-desorption characteristics in brown soil;
有机质含量对棕壤表面电荷及NH_4~+的吸附解吸特性的影响
2.
The surface defect of insulator can cause surface electric charge accumulation, which makes the electric field distortion of insulator surface, and effects creeping discharge of insulator under impulse voltage.
绝缘子的表面缺陷会导致表面电荷积聚,使绝缘子表面的电场发生畸变,影响冲击电压下绝缘子的沿面放电。
3.
It also discusses how to measure the ζ_electric potential of such surface electric charges.
本文以物理化学理论为指导，实验为基础，较详细地介绍了矿料遇水后，表面电荷的起因、表面电荷的性质和ζ电势的测定，从而说明沥青与矿料间的相互作用机
补充资料：表面粗糙度测量
长度计量技术中对工件加工表面的微观几何形状特性的测量。常用的测量方法有比较法、触针法、光切法和干涉法等。
比较法 将表面粗糙度比较样块（简称样块,图1）根据视觉和触觉与被测表面比较，判断被测表面粗糙度相当于那一数值，或测量其反射光强变化来评定表面粗糙度(见激光测长技术)。样块是一套具有平面或圆柱表面的金属块，表面经磨、车、镗、铣、刨等切削加工，电铸或其他铸造工艺等加工而具有不同的表面粗糙度。有时可直接从工件中选出样品经过测量并评定合格后作为样块。利用样块根据视觉和触觉评定表面粗糙度的方法虽然简便,但会受到主观因素影响,常不能得出正确的表面粗糙度数值。
触针法 利用针尖曲率半径为 2微米左右的金刚石触针沿被测表面缓慢滑行，金刚石触针的上下位移量由电学式长度传感器转换为电信号，经放大、滤波、计算后由显示仪表指示出表面粗糙度数值，也可用记录器记录被测截面轮廓曲线。一般将仅能显示表面粗糙度数值的测量工具称为表面粗糙度测量仪（见彩图），同时能记录表面轮廓曲线的称为表面粗糙度轮廓仪（简称轮廓仪,图2。这两种测量工具都有电子计算电路或电子计算机，它能自动计算出轮廓算术平均偏差Rα,微观不平度十点高度RZ,轮廓最大高度Ry和其他多种评定参数，测量效率高，适用于测量Rα为0.025～6.3微米的表面粗糙度。
光切法 光线通过狭缝后形成的光带投射到被测表面上，以它与被测表面的交线所形成的轮廓曲线来测量表面粗糙度（图3）。由光源射出的光经聚光镜、狭缝、物镜1后,以45°的倾斜角将狭缝投影到被测表面，形成被测表面的截面轮廓图形，然后通过物镜 2将此图形放大后投射到分划板上。利用测微目镜和读数鼓轮（图中未示）先读出h值,计算后得到H 值。应用此法的表面粗糙度测量工具称为光切显微镜。它适用于测量RZ和Ry为0.8～100微米的表面粗糙度，需要人工取点，测量效率低。
干涉法 利用光波干涉原理 (见平晶、激光测长技术)将被测表面的形状误差以干涉条纹图形显示出来,并利用放大倍数高 （可达500倍）的显微镜将这些干涉条纹的微观部分放大后进行测量，以得出被测表面粗糙度。应用此法的表面粗糙度测量工具称为干涉显微镜。这种方法适用于测量Rz和Ry为 0.025～0.8微米的表面粗糙度。
比较法 将表面粗糙度比较样块（简称样块,图1）根据视觉和触觉与被测表面比较，判断被测表面粗糙度相当于那一数值，或测量其反射光强变化来评定表面粗糙度(见激光测长技术)。样块是一套具有平面或圆柱表面的金属块，表面经磨、车、镗、铣、刨等切削加工，电铸或其他铸造工艺等加工而具有不同的表面粗糙度。有时可直接从工件中选出样品经过测量并评定合格后作为样块。利用样块根据视觉和触觉评定表面粗糙度的方法虽然简便,但会受到主观因素影响,常不能得出正确的表面粗糙度数值。
触针法 利用针尖曲率半径为 2微米左右的金刚石触针沿被测表面缓慢滑行，金刚石触针的上下位移量由电学式长度传感器转换为电信号，经放大、滤波、计算后由显示仪表指示出表面粗糙度数值，也可用记录器记录被测截面轮廓曲线。一般将仅能显示表面粗糙度数值的测量工具称为表面粗糙度测量仪（见彩图），同时能记录表面轮廓曲线的称为表面粗糙度轮廓仪（简称轮廓仪,图2。这两种测量工具都有电子计算电路或电子计算机，它能自动计算出轮廓算术平均偏差Rα,微观不平度十点高度RZ,轮廓最大高度Ry和其他多种评定参数，测量效率高，适用于测量Rα为0.025～6.3微米的表面粗糙度。
光切法 光线通过狭缝后形成的光带投射到被测表面上，以它与被测表面的交线所形成的轮廓曲线来测量表面粗糙度（图3）。由光源射出的光经聚光镜、狭缝、物镜1后,以45°的倾斜角将狭缝投影到被测表面，形成被测表面的截面轮廓图形，然后通过物镜 2将此图形放大后投射到分划板上。利用测微目镜和读数鼓轮（图中未示）先读出h值,计算后得到H 值。应用此法的表面粗糙度测量工具称为光切显微镜。它适用于测量RZ和Ry为0.8～100微米的表面粗糙度，需要人工取点，测量效率低。
干涉法 利用光波干涉原理 (见平晶、激光测长技术)将被测表面的形状误差以干涉条纹图形显示出来,并利用放大倍数高 （可达500倍）的显微镜将这些干涉条纹的微观部分放大后进行测量，以得出被测表面粗糙度。应用此法的表面粗糙度测量工具称为干涉显微镜。这种方法适用于测量Rz和Ry为 0.025～0.8微米的表面粗糙度。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条