1) self-test mode
自测试模式
1.
The CAN controller module of TMS320LF2407A was introduced and its self-test mode, the priority to transmit and receive message of its mailboxes and the transmission and receiving of the remote frame were discussed in this paper.
介绍了TMS320LF2407A的CAN控制器模块,分析了CAN控制器模块的自测试模式、邮箱发送和接收报文的优先级以及远程帧的发送和接收。
2) test mode
测试模式
1.
Using the test mode,it is more reliable for missile to launch and fly.
利用这种测试模式,该弹载数据纪录器使导弹发射过程具有更高的可靠性。
2.
HSP50216 had a test mode which was generally used to examine the chip.
另外,该芯片配有一个测试模式,它通常用来进行芯片检测。
3.
For the sake of testing system fault, self-contained test modes such as Program ROM test mode, adder test mode and I/O test mode are offered in this MPU.
该微处理器具有丰富的指令集 ,能够满足 LCD显示的各种要求 ,系统最大特色就是提供了比较完备的用于测试片内模块故障的测试模式。
3) testing model
测试模式
1.
An invetigation of testing models for English written communication in universities
大学生英语书面信息交流能力测试模式初探
2.
To explore characteristics of English testing models in higher vocational colleges, a survey has been made concerning teaching forms, types of testing, testing forms, types of test paper as well as problems of setting and going over a test paper and the feedback after the test among eight higher vocational colleges in Yunnan province, which reveals some problems in existence.
为探求具有高职高专特色的校内英语测试模式,笔者对云南省八所高职高专院校校内英语测试模式—教学形式,测试类型,测试形式,试题类型,命题阅卷及反馈等方面进行了调查,分析了存在的问题,并提出改进的建议。
4) test pattern
测试模式
1.
This paper introduces fault model and design flow of the ATPG (automatic test pattern generation) techniques, which are utilized to test RSIC CPU manufacturing defects along with DFT(design for test) technology.
介绍了自动测试模式生成的测试故障模型和设计流程，以及自动测试模式生成结合可测性设计技术在测试ＲＳＩＣ ＣＰＵ制造缺陷中的应
5) ATPG
自动测试模式生成
1.
The theorem and conditions on identifying undetectable faults can be acquired by applying combinational ATPG to ILA in sequential circuits; and the conditions are given for faulty circuit.
对时序电路的迭代逻辑阵列(ILA)施加组合ATPG(自动测试模式生成),可得到不可测故障识别的定理和条件,其条件针对故障电路给出。
6) automatic test pattern generation
自动测试模式生成
1.
This paper introduces fault model and design flow of the ATPG (automatic test pattern generation) techniques, which are utilized to test RSIC CPU manufacturing defects along with DFT(design for test) technology.
介绍了自动测试模式生成的测试故障模型和设计流程，以及自动测试模式生成结合可测性设计技术在测试ＲＳＩＣ ＣＰＵ制造缺陷中的应
2.
The goal of Automatic Test Pattern Generation(ATPG) is to reduce generation time and improve quality of test pattern, and the two key steps of ATPG are generation and optimization of test pattern set.
本文以航天科工集团公司课题:“面向数字测试的自动测试模式生成开发环境”为背景,针对数字电路测试和故障诊断中的测试生成问题,以基本蚁群算法为基础,研究数字电路测试模式的生成和优化技术。
补充资料：测试结果可接受性的检查和最终测试结果的确定
测试结果可接受性的检查和最终测试结果的确定
check of the acceptability of test results and determination of the final test result
C凡(3)二3.3d，时，取此3个结果的平均值作为最终侧试结果;否则取它们的中位数作为最终测试结果。。，为重复性标准差(即在重复性条件下所得侧试结果的标准差)。 在口田T 11792一1989中还对重复性和再现性条件下所得侧试结果可接受性的检查方法和最终测试结果的确定做了详细讨论和规定。(马毅林)ceshi 11叩uo kejieshCxjxing d6 iiancha he zuizhong ceshi】i闪旧de que心ing测试结果可接受性的检查和最终测试结果的确定(checkof山eac，ptability of test，ults助ddsterminationofthefi耐testresult)在商品检验中进行一次测试的情形不多见，当得到一个测试结果时，所得结果不可能直接与给定的重复性标准差作可接受性的检查。对测试结果的准确性有任何疑问时都应再进行一次测试。所以，对两个测试结果进行可接受性的检查是一般的情况。 可接受性的检查，实际上是一种统计检验。任何两个测试结果只要能通过可接受性的统计检验即可认为是一致的，均可接受。比如，在重复性条件下，所得结果之差的绝对值(下称绝对差)不超过相应的重复性限r(见重复性和再现性)的值，则认为两个结果是一致的，均可接受;如果两个侧试结果的绝对差超过r，则认为它们是不一致的，必须增加测试。 按国家标准《测试方法的精密度在重复性或再现性条件下所得测试结果可接受性的检查和最终测试结果的确定》(GBIT 1 1792一1989)，在重复性条件下，如果两个测试结果的绝对差不超过r的值，可取两个侧试结果的平均值作为最终测试结果。如果两个结果的绝对差超过r的值，并且测试费用较低，须再做两次测试。当4个结果的极差(即其中的最大值与最小值之差)不超过相应的临界极差c，瓜(4)二3.6a，时，取4个结果的平均值作为最终测试结果。如果两个结果的绝对差超过r的值，并且测试费用较高时，只须再作一次测试。当3个结果的极差不超过相应的临界极差
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条