1) Soft X-ray reflectivity
软X射线反射率
2) soft X-ray reflectometer
软X射线反射率计
1.
A soft X-ray reflectometer using a laser produced-plasma (LPP) light source with gas-jet target is built, and the method to measure the reflectance of soft X-ray multilayer coatings employing the reflectometer is presented.
建立了一台使用气体靶激光等离子体光源的软X射线反射率计,并给出了使用该反射率计测量软X射线多层膜反射率的方法。
3) X-ray reflectivity
X射线反射率
1.
The results show that X-ray reflectivity rocking curves of HgCdTe materials are affected by transverse composition ununiformity.
用X射线动力学理论研究了组分不均匀对HgCdTe材料X射线反射率的影响。
2.
The synchrotron radiation x-ray reflectivity and slow positron annihilation techniques were used to characterize the pore structures.
通过蒸发诱导自组装技术制备了具有不同有序结构的介孔SiO2薄膜,并采用同步辐射X射线反射率以及慢正电子束流技术对其进行表征。
4) Soft X-ray power meter
软X射线功率仪
5) soft X-ray and extreme ultraviolet reflectometer
软X射线-极紫外反射率计
1.
Compact high-precision soft X-ray and extreme ultraviolet reflectometer;
小型高精度软X射线-极紫外反射率计
6) soft X-ray
软X射线
1.
On the crystal growth of dioctadecyl maleate for soft X-ray spectroscopy;
软X射线分光晶体马来酸十八酯的生长研究
2.
Studies of the Thermal Stability of the Interfaces of Mo/Si and Mo/B_4C Soft X-ray Multilayers;
Mo/Si和Mo/B_4C软X射线多层膜的界面热稳定性研究
3.
A Simulation Study of the Influence of Interdiffusion Barrier on Soft X-ray Reflectivity of Mo/Si Multilayers;
研究扩散屏障层对Mo/Si多层膜软X射线反射率影响的模拟
补充资料：全反射X射线荧光分析
分子式：
CAS号：
性质：20世纪80年代迅速发展起来的一种高灵敏度痕量分析方法。当一束经过准直的X射线束，以低于全反射临界角φ投射到表面高度平滑的石英切割反射体（低通能量滤波器）时，低能X射线进行全反射，高能X射线被反射体材料折射和吸收而受到衰减，降低了散射背景。经全反射的高能X射线射到样品架上的μm级薄膜样品，激发被分析样品产生元素的特征X射线荧光，未被利用的入射X射线荧光被垂直放置的Si(或Li)探测器所检测，实现痕量元素的定性和定量分析。由于大大减少了原级X射线在样品架和样品上的相干和不相干散射，使散射本底较常规能量色散X射线荧光分析降低了3个数量级以上，大大降低了检出限，对原子序数大于11的大部分元素检出限可达到10-10～10-12g。此外还具有试样用样量少（μL或μg级）；可测定的元素和浓度范围广，除Na, Mg, Al, Si, P等轻元素外均可测；基体效应可以忽略；制样简便等优点。
CAS号：
性质：20世纪80年代迅速发展起来的一种高灵敏度痕量分析方法。当一束经过准直的X射线束，以低于全反射临界角φ投射到表面高度平滑的石英切割反射体（低通能量滤波器）时，低能X射线进行全反射，高能X射线被反射体材料折射和吸收而受到衰减，降低了散射背景。经全反射的高能X射线射到样品架上的μm级薄膜样品，激发被分析样品产生元素的特征X射线荧光，未被利用的入射X射线荧光被垂直放置的Si(或Li)探测器所检测，实现痕量元素的定性和定量分析。由于大大减少了原级X射线在样品架和样品上的相干和不相干散射，使散射本底较常规能量色散X射线荧光分析降低了3个数量级以上，大大降低了检出限，对原子序数大于11的大部分元素检出限可达到10-10～10-12g。此外还具有试样用样量少（μL或μg级）；可测定的元素和浓度范围广，除Na, Mg, Al, Si, P等轻元素外均可测；基体效应可以忽略；制样简便等优点。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条