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1)  IC parameter testing
集成电路参数测试
1.
A design of the digital IC parameter testing instrument;
数字集成电路参数测试仪设计
2)  digital integrated circuit measuring-testing instrument
数字集成电路测试仪
3)  IC testing
集成电路测试
1.
Firstly, the configuration of an ATE for digital IC testing is introduced in the thesis, including hardware blocks and f.
集成电路晶圆(Wafer Test)测试是集成电路测试的一种重要方法,是保证集成电路性能、质量的关键环节之一,是发展集成电路产业的一门支撑技术。
4)  IC test
集成电路测试
1.
IC test is as critical key as to sure the quantity and the development of IC .
集成电路测试是保证集成电路质量、发展的关键手段。
2.
Delay line is a key component of IC test system.
延迟线是集成电路测试系统的关键部件。
3.
The components include hardward of measurement device, programming test software and analysing the IC test results.
内容包括测试设备的硬件选择、测试软件的编写、集成电路测试结果的分析及集成电路的管理等。
5)  IC test instrument
集成电路测试仪
6)  integrated circuit tester
集成电路测试器
补充资料:集成电路测试程序


集成电路测试程序
integrated circuit test program

成,以及多测试系统(系列)之间测试程序的交互移植。由n个模拟器和、个测试系统(系列)组成的多通路链接,需要相应n xm个格式转换器。如果每当一个新的格式进人CAD/CAE或者CAT环境时,必须立即补充开发一个新的转换器集合,其结果将是开发和维护程序的成本大幅度提高,而且这个庞大和相互独立转换器集合的管理将非常困难。为了解决测试和设计之间这个多通路链接的n xm复杂性问题,合理的办法是设计和实现一种中间(中介)格式。原来需要从每一种模拟器文件转换到每一种测试系统(系列)测试程序,现在只需要转换到中间格式;当需要目标测试系统测试程序时,只需将这个已经没有不同模拟器属性的中间格式程序进行划一的测试程序转换即可。多通路链接的转换器复杂性降为n十,。图2是具有中间格式的双向链接模型。链接必须是双向的,以便测试结果数据返回到设计部门,便于设计工程师对原始设计数据进行必要的修改,以进行再模拟。复杂性的降低可节省相当的资源和相应的维护开销。 图2双向测试和设计链接模型 近10年来,由于EDIF,CADDIF,WAVES等不同类型电气数据交换标准格式或中间格式的推广,测试和设计链接新结构取得了长足进展,很多在市场上流通的产品都具有相应的链接能力,在减少产品从设计到上市时间,提高产品测试质量等方面,取得了明显的效果。(11)最新的数据采集范围很宽,可以是任何一次测试中的实际测量值,也可以是单参数、双参数或三维参数搜索数据,这些数据是以绝对值、图形、图表、波形、直方图、Shi刊刀图或报表等表示的结果形式。 (12)有效的历史数据包括标准偏差、平均值、峰值、参数分布等,也可以是一个或几个被测电路的一次或一组测试的三维段讯100图。 (13)分类在测试序列结尾处,或实时地在测试执行期间分析测试结果数据并确定该被测集成电路的分类。 测试程序生成当前,计算机辅助设计((泊D)与计算机辅助工程(CAE)已广泛用于产品发展的全过程,在测试领域广泛应用的是计算机辅助测试(CAT)。测试自动化是将被测集成电路的基准电气特性存储在计算机的存储器中,测试时与自动测试系统环境中运行被测电路的实际特性进行比较,并给出合格、失效或其它判断。为此,需要借助计算技术建立被测集成电路基准电气模型;需要计算机对自动测试系统进行侧试数据控制和测试过程控制;需要用计算机将测试结果数据进行相应计算和分析,以给出生产质量控制数据、生产过程控制数据,并进行生产管理。
说明:补充资料仅用于学习参考,请勿用于其它任何用途。
参考词条