1) interferogram stacking
干涉图叠加
2) interference pattern of surperimposed folds
叠加褶皱干涉型
3) interference of overlapping of orders
叠级干涉
4) overlap and intersection
重叠干涉
5) superposition fringes
(多光束)叠加干涉条纹
6) machining interference
加工干涉
1.
Calculation of theoretical tool setting position is presented which resolves the problems such as deviation on tool setting point and machining interference.
提出了理论对刀位置的计算方法 ,有效地解决了对刀点偏差大和加工干涉等问题。
补充资料：谱图线性叠加
分子式：
CAS号：
性质：描述混合物及其中各组分质谱图的关系——一个混合物的质谱图，是该混合物所含各组分按相同的量、在相同实验条件下所得各质谱图的线性叠加。
CAS号：
性质：描述混合物及其中各组分质谱图的关系——一个混合物的质谱图，是该混合物所含各组分按相同的量、在相同实验条件下所得各质谱图的线性叠加。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条