1) Wide-angle imaging
大角度成像
2) separated angle imaging
分角度成像
1.
Plane wave migrating,separated angle imaging and AVA gather generating.;
平面波偏移、分角度成像与AVA道集生成
3) Angle-domain imaging
角度域成像
5) multi-angle imaging
多角度成像技术
6) multi-angle imaging sensor
多角度成像仪
补充资料:Anglelapping角度研磨
angle lapping 的目的是为了测量junction的深度,所作的芯片前处理,这种采用光线干涉测量的方法就称之angle lapping。公式为xj=λ/2 nf即junction深度等于入射光波长的一半与干涉条纹数之乘积。但渐渐的随着vlsi组件的缩小,准确度及精密度都无法因应。如srp(spreading resistance prqbing)也是应用angle lapping的方法作前处理,采用的方法是以表面植入浓度与阻值的对应关系求出junction的深度,精确度远超过入射光干涉法。
说明:补充资料仅用于学习参考,请勿用于其它任何用途。
参考词条