补充资料：掺杂钨丝的钾泡强化

掺杂钨丝的钾泡强化
K-bubble strengthening of doped tungsten wire

ehonzo wusi de JiaPaoq一anghua掺杂钨丝的钾泡强化(K一bubbl。strengthe-ning of doped tungsten wire)掺杂钨丝(见掺杂钨丝生产)中因含有钾原子的气泡而使钨丝的高温抗蠕变性能提高的机制。1918年，美国人柏斯(A.Pacz)发现在钨的氧化物还原之前加入微量Si、Al、K的氧化物制备的坯条，经适当的加工和热处理制成的钨丝具有优异的高温抗蠕变性能，是白炽灯理想的灯丝材料。掺杂钨丝至今仍是电子、电光源工业的重要基础材料。掺杂钨丝的发明和生产虽然有半个多世纪的历史，但是由于受检测条件限制，人们对微观掺杂机制和强化机制长期未能认识，在不同时期曾提出多种假设和推论加以解释。因此，掺杂和强化机制始终是世界范围内受到关注的少数研究课题之一。 掺杂钨丝中形成有序排列的钾泡是造成掺杂钨丝优异高温抗蠕变性能的基础，这一论点不仅得到充分的实验证明.而且逐步作出了令人信服的理论解释，从而形成与完善了钾泡强化理论。掺杂钨丝钾泡强化因机制的完善和发展，已成为多种强化方法之一，在发展新型难熔金属材料中得到应用。 理论形成与发展钾泡强化理论的形成与发展大致分为以下3个阶段: (1)假设与推论阶段。1957年斯沃林(R.A.Swa-lin)和盖斯勒(A.H.Geisler)提出了掺杂剂线性排列说，认为掺杂剂的加入使钨坯条在烧结过程中保持较长时间的多孔体状态，从而使再结晶时晶粒能得到充分长大。赖克(G.D.Reich)等人也提出类似的掺杂剂线性排列说，认为钨丝拉伸过程中掺杂剂以一种管状钨青铜化合物形式存在于纤维边界上，这些平行于丝轴方向的管状物在再结晶过程中会妨碍或抑制晶粒沿丝径方向长大，从而形成长宽比极大的长晶。1962年米尔纳(T.Miller)提出了掺杂剂溶解说，认为掺杂剂有极少部分以溶解态形式存在，溶解的粒子与位错发生交互作用，导致再结晶时长大晶粒的形成。上述种种观点虽属推论和假设，缺乏充分的实验依据，但是对吸引人们关注和推动研究的深入起了积极的作用。 (2)理论建立与发展阶段。1967年，库(R.C.Koo)等人采用透射电子显微镜技术直接观察到在高温退火的钨丝中存在由掺杂物产生的高压蒸气所形成的小泡，同期斯诺(D.B.Snow)证实了小泡中含有钾原子。

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