1) tip diffraction method
端点衍射法
1.
Testing principle of tip diffraction method in height of surface breaking crack is introduced in this paper.
介绍了超声端点衍射法在表面开口裂纹高度中测定原理,自行设计了测量方案,实验运用斜探头折射角的正切值K=1、1。
2) tip echo method
端点反射法
3) vertex diffraction
尖端衍射
1.
The influence of vertex diffraction contribution is firstly considered in this paper,and the effect of vertex diffraction and the surface impedance characteristics of a structure on the total diffraction acoustic field under different conditions are emphasized.
其中,首次考虑了尖端衍射贡献影响,并重点分析了尖端衍射和结构表面阻抗特性在不同条件下对总的衍射声场作用规律和影响程度等。
4) diffraction pattern
衍射斑点
1.
There is usually indexing of diffraction patterns in TEM.
在电镜衍射[1]中,衍射斑点的标定是常见的。
2.
By indexing the diffraction patterns in the hypereutectic,we get the relationship of crystal orientation.
通过标定过共晶铝硅合金两相区衍射斑点指数,确定了过共晶相的取向关系。
5) Point diffraction interference
点衍射
1.
The phenomenon of point diffraction interference in scanning force microscope is presented in this paper.
本文论述了扫描力显微镜中的点衍射干涉现象,论证了硅微探针可以作为后向点衍射板并用于检测微探针变位的光学原理。
6) diffraction image point
衍射像点
补充资料：X射线粉末衍射法
分子式：
CAS号：
性质：在X射线衍射分析中，采用单色X射线和粉末状多晶样品进行衍射的一种方法。多晶试样大多数情况是多晶粉末，也可以是多晶片或丝。衍射线条的位置、强度，可用德拜法、聚焦法或针孔法等照相记录。粉末法主要用于物质鉴定、晶体点阵常数、多晶体的结构、晶粒大小、高聚物结晶度测定等。
CAS号：
性质：在X射线衍射分析中，采用单色X射线和粉末状多晶样品进行衍射的一种方法。多晶试样大多数情况是多晶粉末，也可以是多晶片或丝。衍射线条的位置、强度，可用德拜法、聚焦法或针孔法等照相记录。粉末法主要用于物质鉴定、晶体点阵常数、多晶体的结构、晶粒大小、高聚物结晶度测定等。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条