1) Densitometry
光密度测量法
2) optical density
光密度
1.
Optical density of primary dental enamel and its correlation with caries status;
乳牙牙釉质光密度与患龋状况的关系
2.
Study and application of optical density curve model for recordabl e disc;
可写光盘光密度曲线模型的研究及应用
3.
The result indicated that two synthesized com-pounds have obvious absorption at near infrared wave band,optical density was near 3,and visible light transmittance of them are all higher than 57%.
结果表明,所合成的化合物在近红外区均有明显的吸收,光密度接近3,并且在可见光区透过率大于57%,可作为激光防护的近红外激光吸收剂使用。
3) optical density
光密度值
4) laser cryptogram
激光密码
5) Spectrophotometric method
光密度法
1.
Methods: The PAE was determined by the spectrophotometric method using AVANTAGE Microbiology System.
方法:应用AVANTAGE自动微生物分析仪的光密度法测定培氟沙星的抗生素后效应。
6) optical density
光密度(OD)
参考词条
补充资料:光致发光法测量
光致发光法测量
photoluminescence method
光致发光法测t曲oto一uxnineseence method受光照激发的物质处于较高的能态,在回复到低能态时,多余的能量通过光和热的形式释放出来,如果以光的形式发射出来,就称为光致发光。固体的光致发光研究可追述到20世纪50年代,那时研究的重点是绝缘体中离子的内辐射跃迁。到60年代,随着大功率连续工作气体激光器的问世,激光光谱技术的发展,半导体光致发光研究受到了广泛重视。 原理半导体受到光的本征激发时(光子能量h。大于禁带宽度凡),电子从价带跃迁到导带,产生非平衡载流子电子一空穴对,非平衡的电子可直接越过禁带与价带的空穴复合,也可在被禁带中定域态俘获后再与空穴复合。复合可以是辐射复合即发光.或者是非辐射的表面复合,俄歇复合和发射多声子的复合等。半导体中主要的辐射复合过程包括:①带边复合。导带电子与价带空穴复合(e,h),自由激子复合(F,X)以及束缚在中性、电离状态的浅施主和受主上的束缚激子复合(D气X,D+,X,A。,X,A一,X)等。只在比较纯净的半导体材料里才能观察到(e,h)和(F,X)复合发光的分立谱,而束缚激子复合发光强度则随杂质浓度提高而增加。当杂质浓度过高时,分立的带边谱相互重叠形成带l(图ib)。②电子从自由态到束缚态的复合跃迁(FB)。即导带电子经过浅施主与价带空穴或者是价带空穴经浅┌─┬──┬────┬────┬─┬──────┬─────┬──┐│〕│1 │ │ │ │ │ │ │├─┼──┼────┼────┼─┼──────┼─────┼──┤│ │】 │ 习 │氢一;, │及│ { │甘曰 │. ││ │} │匕P沙1; │ FB │ │FB │. │FBD ││ │} │‘F,X) │ │ │ . │介口~ │ ││ │} │ │ │ ├──────┼─────┼──┤│ │1 │ │ │ │压A │ . │J ││ │} │ │ │ │ │FBD │. ││ │ │ │ │ │ │ │r、 │├─┼──┼────┼────┼─┼──────┼─────┴──┤│门│民}1│l │l‘ │ │ │ 下 │└─┴──┴────┴────┴─┴──────┴────────┘FBDAPFBD 复合(发射)过程 ab图l光致发光示意图与PJ_图谱激发过程a半导体光致发光示意图b典型的PL图谙受主与导带电子的复合跃迁。
说明:补充资料仅用于学习参考,请勿用于其它任何用途。