1) IOL measuring
人工晶体测量
1.
Objective To improve the quality of inspection results in the course of IOL measuring by using good communication technique with cataract patients.
3％老年患者的护理,我们认为在对老年患者进行人工晶体测量时,运用语言性的交流和非语言性的交流,使患者消除紧张、恐惧心理,在检查过程中能主动配合,提高检查的准确性。
2) IOL power calculation
人工晶状体度数测量
3) Measure of intraocular lens(IOL)
人工晶体度数测量
4) artificial lens
人工晶体
1.
Nursing care of congenital cataract patients treated with artificial lens implantation combining with amblyopia training;
人工晶体植入联合弱视训练治疗先天性白内障的护理
2.
Objective:To study the curative effect of cataract extration and artificial lens plantation in patients with diabetes.
目的 :观察糖尿病患者白内障摘除人工晶体植入的疗效。
3.
To evaluate the curative effects of the artifical len implanted in the eyes with posterior capsular rupture(PCR),34 eyes with PCR were implanted by artificial lens.
为评价后囊破裂人工晶体植入术的疗效 ,对 34例后囊破裂者植入人工晶体观察 。
5) intraocular lens
人工晶体
1.
Accommodation in pseudophakic eyes with the 1CU accommodating intraocular lens;
ICU可调节人工晶体调节力的早期临床观察
2.
Nursing of phacoemulsification and intraocular lens implantation in cataract with diabetes;
糖尿病合并白内障摘除人工晶体植入术的护理
3.
The relation between shape and size of the continuous curvilinear capsulorhexis with posterior capsule opacification and the position of intraocular lens after cataract surgery;
环形撕囊的形状和大小与后发障形成以及术后人工晶体位置的关系
6) IOL
人工晶体
1.
The effection analysis of using progressive lens to treatment the IOL planted patient s refracation;
人工晶体植入术后应用渐进多焦点眼镜矫正屈光不正的效果观察
2.
Predictive accuracy of the SRK-Ⅱ fomula in IOL powers;
SRK-Ⅱ公式预测人工晶体屈光度数准确性分析
3.
The accuracy of predetermined IOL diopter;
预设人工晶体屈光度的准确性
补充资料：晶体管电参数测量
晶体管电参数包括直流参数、器件参数、频率参数、网络参数、特殊参数和极限参数。
测量晶体管直流参数的直观方法是使用晶体管特性曲线图示仪。在被测器件的输入端注入一个阶梯扫描电流,在输出端就可以看到输出电流-电压关系曲线。图1为共发射极输出特性曲线，根据这一曲线可以近似求出击穿电压、电流放大系数和饱和压降。
表征频率特性的最常用参数是特征频率fT。图2是││随频率的变化关系,当测量频率f0＞(3～5)时(图中斜线的区域),满足fT=||·f0为一常数。式中||是共发射极输出短路时的电流放大系数的模值;是共发射极电流放大系数截止频率。这个关系使测量频率可选取在远低于fT的频率上。测量fT的系统框图如图2b。还可以将被测晶体管作为二端口网络，用网络分析仪来测量晶体管的S参数。
晶体管电参数的测量逐渐实现自动化，从直流到高频范围的测量已基本上达到自动分选。微波参数（例如噪声系数）的测量可通过配有微型计算机的系统在几秒钟内得出结果，甚至能扫描测出噪声系数的频率特性。
测量晶体管直流参数的直观方法是使用晶体管特性曲线图示仪。在被测器件的输入端注入一个阶梯扫描电流,在输出端就可以看到输出电流-电压关系曲线。图1为共发射极输出特性曲线，根据这一曲线可以近似求出击穿电压、电流放大系数和饱和压降。
表征频率特性的最常用参数是特征频率fT。图2是││随频率的变化关系,当测量频率f0＞(3～5)时(图中斜线的区域),满足fT=||·f0为一常数。式中||是共发射极输出短路时的电流放大系数的模值;是共发射极电流放大系数截止频率。这个关系使测量频率可选取在远低于fT的频率上。测量fT的系统框图如图2b。还可以将被测晶体管作为二端口网络，用网络分析仪来测量晶体管的S参数。
晶体管电参数的测量逐渐实现自动化，从直流到高频范围的测量已基本上达到自动分选。微波参数（例如噪声系数）的测量可通过配有微型计算机的系统在几秒钟内得出结果，甚至能扫描测出噪声系数的频率特性。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条