1) X-ray surface analysis
X射线面分析
2) X-ray diffraction
X射线分析
1.
Crystallization process of CoSi2 thin films prepared by radio frequency magnetron sputtering have been investigated by in situ X-ray diffraction.
利用射频磁控溅射方法制备了具有CoSi2成分的非晶薄膜,对非晶薄膜的晶化过程进行了原位X射线分析。
3) XRD
X射线分析
1.
The resulting alloy material was characterized with XRD,electronic scanning microscope and mechanical property measurement.
微观形貌分析和X射线分析表明,稀土对孔洞的大小和孔壁的强度有显著的影响。
6) X-ray diffraction analysis
X射线衍射分析
1.
Change of macroscopic stress in ZnSe devices during the processing was determined by X-ray diffraction analysis.
用X射线衍射分析技术测定晶体器件在加工过程中宏观应力的变化。
2.
Talc powder in flour was determined by X-ray diffraction analysis(XRD) after isolation of flour with carbon tetrachloride or cineration at high temperature from 500℃ to 750℃.
通过四氯化碳分离或高温灰化,X射线衍射分析测定面粉中掺入的滑石粉。
3.
X-ray diffraction analysis and differenti al thermal analysis(DTA)have been used to study the structure of Pd-20W alloy.
对Pd - 2 0W合金进行X射线衍射分析和差热分析 ,结果表明 :Pd - 2 0W合金是面心立方固溶体 ,合金的晶格点阵参数和晶粒大小随着温度的变化而变化 ,在温度缓慢下降至 75 0℃时出现了超结构转变。
补充资料：￡#xB5;子X射线分析
用一定能量的µ-子束射入被研究的物质，根据释放的特征µX射线来进行物质的化学组成和状态分析的方法。µ-子被原子捕获形成µ子原子时,最初处在主量子数n≈14的高激发能级上，随后向基态跃迁，释放一系列特征的X射线,称为µX射线。它们的能量比相应的电子跃迁释放的X射线约高200倍。
1949年中国物理学家张文裕用云室观测铅箔和铁箔对宇宙线中 µ子的吸收，根据记录到的电子，首先发现了µX射线，证实了µ子原子的形成。
µ-子被原子捕获的几率,除了与原子序数有关外,还与化学键的类型有关，根据不同原子放出的特征µX射线的强度，可以测定化合物的组成。在有了高分辨率的锗（锂）探测器后，发现了化学状态对K系和L系中某些条µX射线的相对强度有影响，因此可以根据测定µX射线谱的结构来研究物质的化学结构。
不同的同位素捕获µ-子后，放出的µX射线的能量有差别。愈重的元素差别愈明显。铌148和铌150的 Kα1线相差达3.7×104电子伏。根据放出的µX射线有可能分析重元素的同位素成分。
µ子X射线分析的主要优点是：µ-子能量可以调节，µ-子束经聚焦可将照射范围控制得很小，从而可做局部分析；µX射线能量高,穿透力比电子X射线强得多，可以从样品的深部穿出而被探测。因此，可以分区、分层地分析样品的深部。
参考书目
V.W.Hughes and C.S.Wu,ed.,Muon Physics,Vol.3,p.141, Academic Press, New York, 1975.
1949年中国物理学家张文裕用云室观测铅箔和铁箔对宇宙线中 µ子的吸收，根据记录到的电子，首先发现了µX射线，证实了µ子原子的形成。
µ-子被原子捕获的几率,除了与原子序数有关外,还与化学键的类型有关，根据不同原子放出的特征µX射线的强度，可以测定化合物的组成。在有了高分辨率的锗（锂）探测器后，发现了化学状态对K系和L系中某些条µX射线的相对强度有影响，因此可以根据测定µX射线谱的结构来研究物质的化学结构。
不同的同位素捕获µ-子后，放出的µX射线的能量有差别。愈重的元素差别愈明显。铌148和铌150的 Kα1线相差达3.7×104电子伏。根据放出的µX射线有可能分析重元素的同位素成分。
µ子X射线分析的主要优点是：µ-子能量可以调节，µ-子束经聚焦可将照射范围控制得很小，从而可做局部分析；µX射线能量高,穿透力比电子X射线强得多，可以从样品的深部穿出而被探测。因此，可以分区、分层地分析样品的深部。
参考书目
V.W.Hughes and C.S.Wu,ed.,Muon Physics,Vol.3,p.141, Academic Press, New York, 1975.
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
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