1) Whole rock analysis
全岩分析
1.
Whole rock analysis and kerogen analysis are two analytical methods of studying hydrocarbon source rock in organic petrology.
全岩分析与干酪根分析是有机岩石学研究烃源岩的两种分析方法。
2) sample-pretreatment
全岩分析法
3) whole core analysis
全岩心分析
4) core analysis
岩心分析
1.
Accuracy of CT core analysis;
CT扫描的岩心分析精度
2.
Development and prospect of core analysis instrument in China.;
我国岩心分析仪器的发展与展望
3.
From core analysis, through systematical study on reservoir's four- property- relationships among lithology, physical property, oil-bearing and electricity in Putaogou oilfield, four-property-relationship logging interpretation chart is established, which provides basis for the interpretation of water and oil.
从岩心分析入手,通过系统地研究葡萄沟油田储层岩性、物性、含油性、电性相互之间的关系来建立四性关系测井解释图版,进而为油水层解释和储层评价提供依据。
5) core analysis
岩芯分析
6) petrographic analysis
岩相分析
1.
Using petrographic analysis and conventional chemical analysis can identify new coals and analyze the variation of the coals received from the coal supply base and also discover abnormal coal qualities.
利用岩相分析指标结合常规化学指标可以鉴定新煤种、分析供煤基地的煤质变化和发现异常煤,有效监控煤质情况,稳定焦炭质量。
2.
In the petrographic analysis of the corrosion product of zircon mullite sintered brick only the aluminosilicious crystal phase was observed, which often leads to mistake analysis result .
针对前脸墙鼻部烧结锆莫来石砖侵蚀物结石中常常只看到铝硅质晶相而被误判,详细介绍了烧结锆莫来石 砖的蚀变过程及侵蚀产物的岩相分析。
3.
The coal quality for coke making was monitored with petrographic analysis.
通过几个应用实例阐述了采用岩相分析监控我公司炼焦用煤质量的情
补充资料：全反射X射线荧光分析
分子式：
CAS号：
性质：20世纪80年代迅速发展起来的一种高灵敏度痕量分析方法。当一束经过准直的X射线束，以低于全反射临界角φ投射到表面高度平滑的石英切割反射体（低通能量滤波器）时，低能X射线进行全反射，高能X射线被反射体材料折射和吸收而受到衰减，降低了散射背景。经全反射的高能X射线射到样品架上的μm级薄膜样品，激发被分析样品产生元素的特征X射线荧光，未被利用的入射X射线荧光被垂直放置的Si(或Li)探测器所检测，实现痕量元素的定性和定量分析。由于大大减少了原级X射线在样品架和样品上的相干和不相干散射，使散射本底较常规能量色散X射线荧光分析降低了3个数量级以上，大大降低了检出限，对原子序数大于11的大部分元素检出限可达到10-10～10-12g。此外还具有试样用样量少（μL或μg级）；可测定的元素和浓度范围广，除Na, Mg, Al, Si, P等轻元素外均可测；基体效应可以忽略；制样简便等优点。
CAS号：
性质：20世纪80年代迅速发展起来的一种高灵敏度痕量分析方法。当一束经过准直的X射线束，以低于全反射临界角φ投射到表面高度平滑的石英切割反射体（低通能量滤波器）时，低能X射线进行全反射，高能X射线被反射体材料折射和吸收而受到衰减，降低了散射背景。经全反射的高能X射线射到样品架上的μm级薄膜样品，激发被分析样品产生元素的特征X射线荧光，未被利用的入射X射线荧光被垂直放置的Si(或Li)探测器所检测，实现痕量元素的定性和定量分析。由于大大减少了原级X射线在样品架和样品上的相干和不相干散射，使散射本底较常规能量色散X射线荧光分析降低了3个数量级以上，大大降低了检出限，对原子序数大于11的大部分元素检出限可达到10-10～10-12g。此外还具有试样用样量少（μL或μg级）；可测定的元素和浓度范围广，除Na, Mg, Al, Si, P等轻元素外均可测；基体效应可以忽略；制样简便等优点。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条