1) TRXRF
全反射XRF
2) total internal reflection
全反射，全内反射
3) XRF(X-ray fluorescence) method
XRF(X射线荧光)法
4) X-ray fluorescent(XRF)
X射线荧光(XRF)
5) Total internal reflection
全内反射
1.
The influence of polarized light on fluorescence emission in total internal reflection microscopy;
入射光的偏振特性对全内反射荧光显微术中荧光激发的影响
2.
Standing wave total internal reflection imaging technique can obtain high resolution images of a sample along both axial and lateral directions.
从理论上详细计算了在全内反射的条件下 ,两束入射光产生的隐失干涉场 (即隐失驻波 )的强度分布 ,并分析了其不同于传统传播波干涉场的特点。
3.
The propagation and reflection characteristics of the guided mode in an asymmetric total internal reflection optical waveguide switch were investigated by using the wave optic.
５～２°内，因导波模式引起耦合作用而导致的串音小于－２５ｄＢ；采用波动光学原理分析了非对称全内反射开关导模的传输和反射特性；讨论了等离子体色散效应，Ｐｎ结大注入效应以及Ｇｏｏｓ－Ｈａｎｃｈｅｎ位移，并分析了非对称全内反射型ＳＯＩ光波导开关的电学性质。
6) Total reflection
全反射
1.
Total Reflection X Ray Fluorescence Experiments Excited by Synchrotron Radiation at XRF;
同步辐射全反射XRF实验
2.
Experiment on design and application of applanation prism based on total reflection principle;
基于全反射原理的圆台压平棱镜设计与应用实验
3.
The discussion on the extraordinary ray s total reflection;
非常光线的全反射临界角
补充资料：全反射X射线荧光分析
分子式：
CAS号：
性质：20世纪80年代迅速发展起来的一种高灵敏度痕量分析方法。当一束经过准直的X射线束，以低于全反射临界角φ投射到表面高度平滑的石英切割反射体（低通能量滤波器）时，低能X射线进行全反射，高能X射线被反射体材料折射和吸收而受到衰减，降低了散射背景。经全反射的高能X射线射到样品架上的μm级薄膜样品，激发被分析样品产生元素的特征X射线荧光，未被利用的入射X射线荧光被垂直放置的Si(或Li)探测器所检测，实现痕量元素的定性和定量分析。由于大大减少了原级X射线在样品架和样品上的相干和不相干散射，使散射本底较常规能量色散X射线荧光分析降低了3个数量级以上，大大降低了检出限，对原子序数大于11的大部分元素检出限可达到10-10～10-12g。此外还具有试样用样量少（μL或μg级）；可测定的元素和浓度范围广，除Na, Mg, Al, Si, P等轻元素外均可测；基体效应可以忽略；制样简便等优点。
CAS号：
性质：20世纪80年代迅速发展起来的一种高灵敏度痕量分析方法。当一束经过准直的X射线束，以低于全反射临界角φ投射到表面高度平滑的石英切割反射体（低通能量滤波器）时，低能X射线进行全反射，高能X射线被反射体材料折射和吸收而受到衰减，降低了散射背景。经全反射的高能X射线射到样品架上的μm级薄膜样品，激发被分析样品产生元素的特征X射线荧光，未被利用的入射X射线荧光被垂直放置的Si(或Li)探测器所检测，实现痕量元素的定性和定量分析。由于大大减少了原级X射线在样品架和样品上的相干和不相干散射，使散射本底较常规能量色散X射线荧光分析降低了3个数量级以上，大大降低了检出限，对原子序数大于11的大部分元素检出限可达到10-10～10-12g。此外还具有试样用样量少（μL或μg级）；可测定的元素和浓度范围广，除Na, Mg, Al, Si, P等轻元素外均可测；基体效应可以忽略；制样简便等优点。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条