1) electronic evenness tester
电子条干仪
3) electron interferometer
电子干扰仪
4) capacitive evenness tester
电容式条干仪
1.
The principle of capacitive evenness tester and the influence of measuring conditions in determining the unevenness of polyester POY are described.
介绍了电容式条干仪的测量原理。
5) evenness tester
条干仪
1.
Effect of Evenness Tester Yarn Traction Speed Variation on Test Result;
条干仪纱线牵引速度偏差对测试结果的影响
2.
Based on modern computer technology and artificial neural network (ANN) technology, an intelligent expert analysing system is established by analysing spectrogram of evenness tester, which can automatically analyse mechanical wave and drafting wave, and locate the position of a possible fault.
纱线条干均匀度对纺织品质量及生产实践都有很重要的意义, 运用现代计算机技术和人工神经网络技术,通过条干仪的波谱分析制定智能专家分析系统,自动分析机械波、牵伸波,并指出可能发生问题的部位,从而提高了技术人员查找故障原因的效率和准确率,也提高了条干仪的科技含量和市场竞争能力。
6) Uster Unevenness Tester
Uster条干仪
1.
Regarded Some Questions during Test with Uster Unevenness Tester;
Uster条干仪试验中应注意的几个问题
补充资料：条干
纱线、条子或粗纱沿轴向较短片段内粗细或重量的均匀程度，又称条干均匀度。纺织品的质量与纱线条干均匀度密切有关。当半制品均匀度降低时，细纱的均匀度也相应降低;细纱条干不好,纱线的强力便会降低并影响织物的强度。用不均匀的细纱织造时，在织物上会出现各种疵点和条档，影响外观质量。针织生产对细纱均匀度的要求,一般比机织更为严格。在针织加工中,细纱条干不匀或存在纱疵,会使正常的成圈过程受到破坏,有时还会引起断针。在轮胎帘子线的制造中，细纱条干的过度不匀会在生产过程中出现螺旋疵现象，即邻近纱线互相缠绕，从而使加工过程和产品质量都受到影响。此外，细纱条干不匀会使纺纱和织造的断头率提高，以至降低劳动生产率。
形成条干不匀的原因 ①由于纤维原料性质差异而形成纱条不匀。各种天然纤维在长度、细度或其他性能方面都存在着不均匀性，经同一机械和工艺加工就会造成差异，形成不匀。②由于纤维随机排列而产生纱条不匀。根据短纤维纺纱原理，理想纱条可以假设由纤维随机排列而组成，这种随机排列的纱条具有一定的不匀率，称为随机不匀率，数值与纱条截面中平均纤维根数的平方根成反比，纤维根数少时随机不匀将增大。③由于纺纱工艺参数选择不良而产生纱条不匀。例如牵伸机构隔距、加压等工艺参数选择不当，造成对纤维运动控制不良，就会产生节粗节细现象，形成粗细不匀。④由于纺纱机械缺陷所产生的纱条不匀。如罗拉或皮辊偏心、齿轮缺损等，会使纱条产生明显的周期性不匀，常呈粗细起伏的波浪变化，波长较短的称短片段不匀，长的称长片段不匀。一般，前纺机械产生的短片段不匀，由于牵伸变长，在纱线中呈现长片段不匀；细纱机上所产生的不匀，是短片段不匀。
条干的测定方法 在纺纱生产中常用的条干不匀率测定方法，主要有切段称重法、黑板条干目测法和仪器检测法三种。切段称重法可用于各道半制品和细纱；黑板条干目测法主要用于细纱；仪器检测法又可分为电容式检测和机械式检测两种。电容式检测适用于条子、粗纱和细纱，机械式检测仅适用于条子和粗纱。
①切段称重法：把纱条按规定长度切段，并分别称重，然后计算不匀率。所取的片段长度和片段数量，视实际生产情况和试验精度要求而定。这个方法的缺点是耗费时间较多，对支数较低的前纺半制品只适宜测定较长片段的重量不匀率。
②黑板条干目测法：是生产中常用的检查和评定细纱条干水平的方法。将细纱以相等的间隔均匀地绕在长方形（或梯形）黑板上，可以直观分析细纱不匀的构成情况，对照标样对细纱条干进行评级。分级标准和取样评定方法各国有所不同。黑板目测法对黑板规格、检验时光照、观察距离等均有一定要求。
③仪器检测法：电容式均匀度试验仪适用于测试各种短纤维纺制的条子、粗纱和细纱的条干不匀率。对于长丝，须加装假拈装置以消除纱条"截面效应"（即由于纱条截面形态在检测电容槽间的变异而引起的检测误差）。测试方法是使纱条通过电容极板中间，纱条片段的粗细引起电容变化，通过电子线路计算出纱条的不匀率。在应用电容式均匀度试验仪时，应避免用高湿度或湿度不均匀的试样，以免发生过多的测试误差。一般先将试样在标准温、湿度条件下（温度20±3℃;相对湿度65±3％）进行湿度平衡。应用电容式均匀度仪测试纱条不匀率时，能同时测定细纱的细节、粗节和结杂数，此外，还能对纱条不匀的构成进行谱分析,画出波谱图,以显示纱条中显著周期不匀。根据波谱图可以寻找各工序中产生疵病的原因，加以改善或排除。应用电容式均匀度仪所测定纱条的不匀率,可用平均差系数不匀率U％值或均方差系数不匀率CV％值来表示。机械式均匀度试验仪适用于测试条子和粗纱的条干不匀。将条子或粗纱喂入一定规格的凹槽内，上面加有一定压力，测定纱条的厚度变化。不匀率常用每米纱条内平均极差系数来表示。因极差系数不能表示纱条不匀结构的组成，所以很少利用。
纱条不匀的组成 由于测定方法的限制，试验片段长度总是有限的,设为L。纱条总不匀率由CV(L)和CB(L)两部分组成。CV(L)称内不匀率，是L长度纱条内的不匀率数值,以均方差系数表示。纱条取样片段长度L值愈大，不匀出现的机率愈多,即CV(L)值随L增大而逐渐增高,并趋近于总不匀率CV(∞)值。图1中CV（L）曲线经过原点，曲线在起始段对L值有近乎直线的关系，随着试样长度L进一步增大。CV值的增长率逐渐减少。对一般纱条，当所取试样长度在10米以上时，CV值已接近总不匀率定值。CB(L)称外不匀率，为多根L长纱条间的平均重量均方差不匀率。曲线形态和CV(L)曲线恰相反（图 1）。当L趋近于0时,CB(0)等于总不匀率,随着L增加，CB(L)逐渐趋向于0,即长片段间的不匀率随纱条片段长度增加而减少。对取定试验片段长度为L时,同一纱条的内不匀率CV(L)、外不匀率CB(L)和总不匀率间存在着如下关系:[CV(L)]2+[CB(L)]2=[CV(∞)]2=[CB(0)]2。各种纱条，包括细纱和前纺各工序的半制品，具有不同形态的CV)及CB(L)曲线。纺纱过程中工艺参数的变化，尤其是并合数和牵伸倍数的变化，都导致曲线形态的相应变化。 纱条不匀的谱分析 纱条不匀曲线可以假设为有许多周期性的波所组成,每一谐波有其波长和波谱,按波长对振幅作图,可以画出波谱图（图2）。图中横坐标以波长的对数值表示，纵坐标表示周期不匀的平均振幅值。理想纱条的波谱图中，最高峰振幅值的相应波长位于纤维平均长度2.7～3倍的位置上，相邻两频道的波长数值按等比级数排列,比例常数为1.15,即波谱图中横坐标的相邻两值，右面较左面的波长增加15％。由于波谱图横坐标采用对数值，所以波谱曲线具有横向位移的特性。纱条经牵伸后,如假定不引入附加不匀,则牵伸后纱条的波谱图可由原纱条的波谱图向右方位移一相应于牵伸倍数的距离而得到。实际纱条中如存在因工艺因素所产生的牵伸波时,波谱图中呈现山峰形突起;如纱条中存在机械性缺陷所产生的周期性不匀，则在波谱图上相应波长处将叠加振幅,形成烟囱形突起。所以,根据纱条波谱图的形态，可以确定产生疵点的原因，从而在实际生产中加以改善或排除。
形成条干不匀的原因 ①由于纤维原料性质差异而形成纱条不匀。各种天然纤维在长度、细度或其他性能方面都存在着不均匀性，经同一机械和工艺加工就会造成差异，形成不匀。②由于纤维随机排列而产生纱条不匀。根据短纤维纺纱原理，理想纱条可以假设由纤维随机排列而组成，这种随机排列的纱条具有一定的不匀率，称为随机不匀率，数值与纱条截面中平均纤维根数的平方根成反比，纤维根数少时随机不匀将增大。③由于纺纱工艺参数选择不良而产生纱条不匀。例如牵伸机构隔距、加压等工艺参数选择不当，造成对纤维运动控制不良，就会产生节粗节细现象，形成粗细不匀。④由于纺纱机械缺陷所产生的纱条不匀。如罗拉或皮辊偏心、齿轮缺损等，会使纱条产生明显的周期性不匀，常呈粗细起伏的波浪变化，波长较短的称短片段不匀，长的称长片段不匀。一般，前纺机械产生的短片段不匀，由于牵伸变长，在纱线中呈现长片段不匀；细纱机上所产生的不匀，是短片段不匀。
条干的测定方法 在纺纱生产中常用的条干不匀率测定方法，主要有切段称重法、黑板条干目测法和仪器检测法三种。切段称重法可用于各道半制品和细纱；黑板条干目测法主要用于细纱；仪器检测法又可分为电容式检测和机械式检测两种。电容式检测适用于条子、粗纱和细纱，机械式检测仅适用于条子和粗纱。
①切段称重法：把纱条按规定长度切段，并分别称重，然后计算不匀率。所取的片段长度和片段数量，视实际生产情况和试验精度要求而定。这个方法的缺点是耗费时间较多，对支数较低的前纺半制品只适宜测定较长片段的重量不匀率。
②黑板条干目测法：是生产中常用的检查和评定细纱条干水平的方法。将细纱以相等的间隔均匀地绕在长方形（或梯形）黑板上，可以直观分析细纱不匀的构成情况，对照标样对细纱条干进行评级。分级标准和取样评定方法各国有所不同。黑板目测法对黑板规格、检验时光照、观察距离等均有一定要求。
③仪器检测法：电容式均匀度试验仪适用于测试各种短纤维纺制的条子、粗纱和细纱的条干不匀率。对于长丝，须加装假拈装置以消除纱条"截面效应"（即由于纱条截面形态在检测电容槽间的变异而引起的检测误差）。测试方法是使纱条通过电容极板中间，纱条片段的粗细引起电容变化，通过电子线路计算出纱条的不匀率。在应用电容式均匀度试验仪时，应避免用高湿度或湿度不均匀的试样，以免发生过多的测试误差。一般先将试样在标准温、湿度条件下（温度20±3℃;相对湿度65±3％）进行湿度平衡。应用电容式均匀度仪测试纱条不匀率时，能同时测定细纱的细节、粗节和结杂数，此外，还能对纱条不匀的构成进行谱分析,画出波谱图,以显示纱条中显著周期不匀。根据波谱图可以寻找各工序中产生疵病的原因，加以改善或排除。应用电容式均匀度仪所测定纱条的不匀率,可用平均差系数不匀率U％值或均方差系数不匀率CV％值来表示。机械式均匀度试验仪适用于测试条子和粗纱的条干不匀。将条子或粗纱喂入一定规格的凹槽内，上面加有一定压力，测定纱条的厚度变化。不匀率常用每米纱条内平均极差系数来表示。因极差系数不能表示纱条不匀结构的组成，所以很少利用。
纱条不匀的组成 由于测定方法的限制，试验片段长度总是有限的,设为L。纱条总不匀率由CV(L)和CB(L)两部分组成。CV(L)称内不匀率，是L长度纱条内的不匀率数值,以均方差系数表示。纱条取样片段长度L值愈大，不匀出现的机率愈多,即CV(L)值随L增大而逐渐增高,并趋近于总不匀率CV(∞)值。图1中CV（L）曲线经过原点，曲线在起始段对L值有近乎直线的关系，随着试样长度L进一步增大。CV值的增长率逐渐减少。对一般纱条，当所取试样长度在10米以上时，CV值已接近总不匀率定值。CB(L)称外不匀率，为多根L长纱条间的平均重量均方差不匀率。曲线形态和CV(L)曲线恰相反（图 1）。当L趋近于0时,CB(0)等于总不匀率,随着L增加，CB(L)逐渐趋向于0,即长片段间的不匀率随纱条片段长度增加而减少。对取定试验片段长度为L时,同一纱条的内不匀率CV(L)、外不匀率CB(L)和总不匀率间存在着如下关系:[CV(L)]2+[CB(L)]2=[CV(∞)]2=[CB(0)]2。各种纱条，包括细纱和前纺各工序的半制品，具有不同形态的CV)及CB(L)曲线。纺纱过程中工艺参数的变化，尤其是并合数和牵伸倍数的变化，都导致曲线形态的相应变化。 纱条不匀的谱分析 纱条不匀曲线可以假设为有许多周期性的波所组成,每一谐波有其波长和波谱,按波长对振幅作图,可以画出波谱图（图2）。图中横坐标以波长的对数值表示，纵坐标表示周期不匀的平均振幅值。理想纱条的波谱图中，最高峰振幅值的相应波长位于纤维平均长度2.7～3倍的位置上，相邻两频道的波长数值按等比级数排列,比例常数为1.15,即波谱图中横坐标的相邻两值，右面较左面的波长增加15％。由于波谱图横坐标采用对数值，所以波谱曲线具有横向位移的特性。纱条经牵伸后,如假定不引入附加不匀,则牵伸后纱条的波谱图可由原纱条的波谱图向右方位移一相应于牵伸倍数的距离而得到。实际纱条中如存在因工艺因素所产生的牵伸波时,波谱图中呈现山峰形突起;如纱条中存在机械性缺陷所产生的周期性不匀，则在波谱图上相应波长处将叠加振幅,形成烟囱形突起。所以,根据纱条波谱图的形态，可以确定产生疵点的原因，从而在实际生产中加以改善或排除。
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参考词条