1) subwindow analysis
子窗口分析
1.
subwindow analysis (SA), is proposed in this paper.
提出了一种对二维数据严重重叠峰中待测组份进行分辨的新方法：子窗口分析法（ｓｕｂｗｉｎｄｏｗ ａｎａｌｙｓｉｓ，ＳＡ）。
2) Subwindow factor analysis
子窗口因子分析
3) window factor analysis (WFA)
窗口因子分析
1.
In this paper, the resolution of the overlapping chromatograms encountered in the analysis of rare earth elements by high performance liquid chromatography was studied by window factor analysis (WFA) technique.
采用窗口因子分析（ＷＦＡ）技术完成了稀土元素的高效液相色谱分析中重叠峰的解析。
4) dual window factor analysis
双窗口因子分析
1.
A new method, dual window factor analysis (DWFA), used for the qualitative and quantitative analysis of target components hidden in chromatographic overlapping peaks of hyphenated methods is proposed in this paper.
利用组分光谱的特征信息，发展了一种能直接对联用色谱重叠峰中组分进行定性定量分析的新方法──双窗口因子分析（dualwindowfactoranalysis，DWPA）。
5) Window factor analysis
窗口因子分析法
1.
Window factor analysis(WFA) is an important method used to resolve the overlapping chromatographic peaks by processing HPLC-DAD data.
计算机仿真和模拟中药物质体系的实验结果均表明,本方法分析结果受窗口偏差的影响较小,显著优于经典窗口因子分析法,可推广用于计算解析复杂样品色谱分析中出现的重叠峰。
补充资料：￡#xB5;子X射线分析
用一定能量的µ-子束射入被研究的物质，根据释放的特征µX射线来进行物质的化学组成和状态分析的方法。µ-子被原子捕获形成µ子原子时,最初处在主量子数n≈14的高激发能级上，随后向基态跃迁，释放一系列特征的X射线,称为µX射线。它们的能量比相应的电子跃迁释放的X射线约高200倍。
1949年中国物理学家张文裕用云室观测铅箔和铁箔对宇宙线中 µ子的吸收，根据记录到的电子，首先发现了µX射线，证实了µ子原子的形成。
µ-子被原子捕获的几率,除了与原子序数有关外,还与化学键的类型有关，根据不同原子放出的特征µX射线的强度，可以测定化合物的组成。在有了高分辨率的锗（锂）探测器后，发现了化学状态对K系和L系中某些条µX射线的相对强度有影响，因此可以根据测定µX射线谱的结构来研究物质的化学结构。
不同的同位素捕获µ-子后，放出的µX射线的能量有差别。愈重的元素差别愈明显。铌148和铌150的 Kα1线相差达3.7×104电子伏。根据放出的µX射线有可能分析重元素的同位素成分。
µ子X射线分析的主要优点是：µ-子能量可以调节，µ-子束经聚焦可将照射范围控制得很小，从而可做局部分析；µX射线能量高,穿透力比电子X射线强得多，可以从样品的深部穿出而被探测。因此，可以分区、分层地分析样品的深部。
参考书目
V.W.Hughes and C.S.Wu,ed.,Muon Physics,Vol.3,p.141, Academic Press, New York, 1975.
1949年中国物理学家张文裕用云室观测铅箔和铁箔对宇宙线中 µ子的吸收，根据记录到的电子，首先发现了µX射线，证实了µ子原子的形成。
µ-子被原子捕获的几率,除了与原子序数有关外,还与化学键的类型有关，根据不同原子放出的特征µX射线的强度，可以测定化合物的组成。在有了高分辨率的锗（锂）探测器后，发现了化学状态对K系和L系中某些条µX射线的相对强度有影响，因此可以根据测定µX射线谱的结构来研究物质的化学结构。
不同的同位素捕获µ-子后，放出的µX射线的能量有差别。愈重的元素差别愈明显。铌148和铌150的 Kα1线相差达3.7×104电子伏。根据放出的µX射线有可能分析重元素的同位素成分。
µ子X射线分析的主要优点是：µ-子能量可以调节，µ-子束经聚焦可将照射范围控制得很小，从而可做局部分析；µX射线能量高,穿透力比电子X射线强得多，可以从样品的深部穿出而被探测。因此，可以分区、分层地分析样品的深部。
参考书目
V.W.Hughes and C.S.Wu,ed.,Muon Physics,Vol.3,p.141, Academic Press, New York, 1975.
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
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