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1)  ab initio crystal structure determination
从头晶体结构测定
2)  crystal structure determination
晶体结构测定
3)  powder structure determination
粉晶结构测定
4)  crystal structure stability
晶体结构稳定性
5)  crystal structure prediction
晶体结构预测
6)  crystal probe
晶体测头
补充资料:晶体结构测定方法
      利用晶体X射线衍射可测定晶体结构。但衍射实验只能测得衍射强度(即结构振幅)而测不到相角,这样就不可能直接从强度得到晶体结构数据,而要利用其他方法。试差法(模型法)利用晶体的对称性和其他性质以及结构规则,对所研究的结构提出合理的模型,然后从理论上计算晶体的衍射强度,再把计算值与实验值进行比较,并经过多次修正模型,使计算值与实验值尽可能符合。20世纪30年代A.L.帕特森提出利用结构振幅的平方作为傅里叶级数的系数,进行傅里叶计算,得到帕特森函数图。在图上,峰的位置表示晶胞内原子间向量的位置,分析该图提供的信息,特别是当结构中存在少数重原子的情况下,可以直接推出晶体结构。60年代出现了可供应用的直接法,直接从实验得到X射线强度,利用一系列数学处理,推引出结构因子的相角,实现了直接和自动化测定晶体结构,成为当前测定中小分子结构的主流方法。
  

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参考词条