1) RAS-POINT MODE
扫描定点法
1.
Application of RAS-POINT MODE in the Depth Profile of Si/Mo Multilayer Film Material;
扫描定点法在Si/Mo多层膜材料深度剖面分析中的应用
2) fly spot scanning
飞点扫描法，光点扫描法
3) scan from different voltage
分点扫描法
4) scan point by point
逐点扫描法
5) source-scanning
源点扫描法
1.
In this paper, the ideal of the fast-marching method and the source-scanning method is applied to solve the Level Set,and the scheme is f mished on unstructured grids.
本文把快速步进法和源点扫描法的思想结合起来,用于 Level Set 的求解,并在非结构网格下进行了实现。
6) flying spot scannign
飞点扫描法
补充资料：扫描电子显微镜(见扫描电子显微术)
扫描电子显微镜(见扫描电子显微术)
scanning eleetron mieroseoPe
扫描电子显微镜scanning eleetron mieroseope见扫描电子显微术。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条