1) XRD
X射线衍射光谱
1.
28 MeV Zn+ ion implantation in the GaInP/GaInAsP quantum well samples was studied by double-crystal high-resolution X-ray diffraction(HRXRD).
通过双晶X射线衍射光谱测量,定量地分析了由于离子注入所引起的晶格内应变。
2) XRD
X射线衍射光谱法
1.
The analyzed results of SEM and XRD show that the electrochemical performance of the battery fades because of the structure transition of LiCoO2, particle ag.
结果表明:电池充电终止电压越高,电量转换效率越低,电极活性衰减越严重,用扫描电子显微镜法(SEM)与X射线衍射光谱法(XRD)分析说明电池性能衰退是由于LiCoO2结构变形,颗粒粉化团聚且形成惰性物质Co3O4造成的。
3) nondiffraction X-ray spectrometer
非衍射X射线光谱仪
4) XRD
X射线衍射谱
1.
The actual surface morphology of AlGaN layer grown by MOCVD was analyzed using XPS and XRD.
用X光电子能谱和X射线衍射谱方法分析了MOCVD生长的AlGaN薄膜的实际表面形态和晶体结构 基于XPS测量结果 ,通过分析计算 ,发现实际表面除GaN外存在Ga2 O3和Al2 O3及其它与O有关的络合物构成的混合氧化物覆盖层 ,估计覆盖层厚度约 1。
2.
By employing X-ray diffraction(XRD) approach,this paper investigated the influences of milling time and Ni content on the samples.
用机械合金化方法制备了Fe100-xNix(x=10、20、30、40)系粉末样品,利用X射线衍射谱方法分别研究了球磨时间和Ni含量对样品微结构的影响,结果表明:Fe70Ni30样品经球磨24 h后就形成了过饱和的Fe(Ni)固溶体;经36 h机械球磨后的Fe100-xNix样品Ni含量x(x≤40 at%)越大,越不易形成单一的过饱和固溶体,且越易诱导α-Fe(bcc)产生向γ-Fe(fcc)的结构相变,相变所需的球磨时间愈短;经球磨相同时间80 h后,样品Fe70Ni30有非晶产物生成,而Fe80Ni20仍然是bcc结构的Fe(Ni)饱和固溶体,这表明Ni含量也会影响非晶变化的发生。
6) X ray diffraction
X射线衍射谱
1.
In this paper,the composition and spectra of Chinaese red granite and sesame white granite are studied by ICP AES,XRF,IR and X ray diffraction.
:本文用电感耦合等离子体原子发射光谱法、X荧光光谱法测定了中国红花岗石和芝麻白花岗石的成份、X射线衍射谱及红外光谱。
2.
94 buffers are grown on GaAs(100) substrates by molecular beam epitaxy and characterized by X ray diffraction and low temperature photoluminescence.
12 )超晶格结构 ,通过 X射线衍射谱和光致发光谱 ,对其结构特性和光学特性进行了研究 。
补充资料：X射线粉末衍射法
分子式：
CAS号：
性质：在X射线衍射分析中，采用单色X射线和粉末状多晶样品进行衍射的一种方法。多晶试样大多数情况是多晶粉末，也可以是多晶片或丝。衍射线条的位置、强度，可用德拜法、聚焦法或针孔法等照相记录。粉末法主要用于物质鉴定、晶体点阵常数、多晶体的结构、晶粒大小、高聚物结晶度测定等。
CAS号：
性质：在X射线衍射分析中，采用单色X射线和粉末状多晶样品进行衍射的一种方法。多晶试样大多数情况是多晶粉末，也可以是多晶片或丝。衍射线条的位置、强度，可用德拜法、聚焦法或针孔法等照相记录。粉末法主要用于物质鉴定、晶体点阵常数、多晶体的结构、晶粒大小、高聚物结晶度测定等。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条