1) linear grating
长光栅
1.
Based on the principle of double frequency laser interference measurement ofhigh accuracy linear grating.
提出了一种改进ＨＰ５５２８激光干涉仪并实现高精度长光栅动态检测的新方法。
2) grating length measurement
光栅测长
1.
According to Michelson interferometer reading system for the composition and work principles, use the grating length measurement technology to interferometer reading system for improving the implementation of the program.
根据迈克尔逊干涉仪读数系统的组成和工作原理,提出了利用光栅测长技术对干涉仪读数系统进行改进的实施方案。
2.
According to the composition and principle of the Michelson interferometer reading system,an implementation plan of the improvement of reading system has been proposed by the grating length measurement technology.
根据迈克尔孙干涉仪读数系统的组成和工作原理,提出了利用光栅测长技术对干涉仪读数系统进行改进的实施方案。
3) grating length
光栅长度
1.
A cetain value,a method to analyze bending sensing rules of long-period fiber grating(LPFG) according to bending curvature,grating length and grating period was reported,based on coupled-mode theory and perturbation approximation.
基于耦合模理论和微扰近似,研究了长周期光纤光栅(LPFG)弯曲传感特性与弯曲曲率及光栅结构参数(光栅长度和栅格周期)之间的关系。
4) sub-wavelength grating
亚波长光栅
1.
All parameters that affect the zero-order diffraction efficiency of the sub-wavelength gratings are analyzed,and the diffraction efficiency is calculated with coupled-wave theory.
结合亚波长光栅的实际制作工艺,使用耦合波理论进行计算,对影响亚波长光栅零级衍射效率的各个参数进行了全面的分析,排除影响较小和实际无影响的参数,着重对影响较大的几个参数进行分析计算,完成了具有所期望零级衍射效率特性的用于光变色防伪技术的亚波长光栅的设计和制作,样品光栅零级衍射效率的测量结果验证了理论计算结果。
2.
In the experiments,sub-wavelength gratings in silicon-on-insulator(SOI) substrate are fabricated by electron beam lithography and reactive ion etching methods.
亚波长光栅具有特殊的反射特性,可以用于各种光器件的设计。
5) sub-wavelength gratings
亚波长光栅
1.
A new micro fabrication method for sub-wavelength gratings was presented,that is,sub-wavelength line and space pattern were obtained with X-ray lithography and then bulk gratings with high aspect ratio were formed with development.
描述了一种新的亚波长光栅的微细加工技术,即X光光刻得到相应的亚微米级的线宽图形,再利用显影技术获得了高深宽比的立体亚波长光栅。
2.
Resonance characteristics of sub-wavelength gratings in the visible region are studied.
研究亚波长光栅的可见光共振特性。
6) Precise Length Grating
精密长光栅
补充资料：长度计量技术：光栅测长技术
利用光栅產生的莫尔条纹测量位移和轮廓形状等的长度计量技术。测量位移时﹐将计量光栅副中的光栅尺和指示光栅分别固定在长度测量工具或机床等的移动件(例如滑架)和不动件(例如机床导轨)上。两者相隔一个很小的间隙(一般为 0.05～0.1毫米)。当滑架移动时﹐出现在光栅副上的莫尔条纹的週期性光强变化﹐通过光电转换元件转换为正弦波形电信号﹐经放大﹑整形﹑细分﹑计数和显示等电子部分后即可得出光栅位移量。由光源﹑计量光栅副和光电转换元件等组成的部件称为光栅式长度传感器。由光栅式长度传感器和放大﹑整形﹑细分﹑计数和显示等电子部分组成的系统称为光栅测量系统(见图 光栅测量系统 )
﹐常用具有相位依次差1/4线距的四组线条的光栅作为指示光栅。当以圆光栅副代替长光栅副时﹐类似的测量系统可用於测量角位移。长﹑圆光栅测量系统的精确度分别可达 1微米/1000毫米和0.5/360°以上。随著光栅製造技术和电子技术的发展﹐从20世纪50年代开始应用光栅测长技术来测量位移。这种方法已用於三坐标测量机﹑数字显示工具显微镜﹑渐开线测量仪﹑齿轮单面嚙合检查仪和电子千分尺等的测量系统中﹐也常用於数字控制机床的定位反馈系统和其他机床的定位系统中。70年代又开始利用莫尔轮廓图测量表面轮廓形状和变形等。
﹐常用具有相位依次差1/4线距的四组线条的光栅作为指示光栅。当以圆光栅副代替长光栅副时﹐类似的测量系统可用於测量角位移。长﹑圆光栅测量系统的精确度分别可达 1微米/1000毫米和0.5/360°以上。随著光栅製造技术和电子技术的发展﹐从20世纪50年代开始应用光栅测长技术来测量位移。这种方法已用於三坐标测量机﹑数字显示工具显微镜﹑渐开线测量仪﹑齿轮单面嚙合检查仪和电子千分尺等的测量系统中﹐也常用於数字控制机床的定位反馈系统和其他机床的定位系统中。70年代又开始利用莫尔轮廓图测量表面轮廓形状和变形等。 说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条