1) Atomic force microscopy
AFM
1.
An atomic force microscopy study of the growth mechanism of a potassium perchlorate single crystal grown using the gel method;
用AFM观测凝胶法下KClO_4晶体的生长机理
2.
The working principles of several advanced surface analysis instrument including X-ray photoelectron spectroscopy(XPS),atomic force microscopy(AFM) and time of flight secondary ion mass spectroscopy(ToF-SIMS) are introduced, their successful application in fiber surface analysis recent years is reviewed.
介绍了先进的表面分析仪器化学分析电子能谱(XPS)、原子力显微镜(AFM)、含飞行时间分析器的二次离子质谱仪(ToF-SIMS)的工作原理,回顾了近年来它们在植物纤维表面分析中的成功应用,综合利用XPS、AFM及ToF-SIMS方法,可分析和解决制浆造纸过程中的现象和问题。
3.
The morphology of self\|assembled monolayers of mercapto methoxy poly(ethylene glycol) (MPEG) and its complex film with poly(acrylic acid) were investigated with atomic force microscopy.
利用AFM技术研究了聚丙烯酸在末端硫醇化的聚乙二醇分子自组装膜表面形成复合膜的表面形态及影响因素 ,发现溶液浓度和离子强度对复合膜的表面形态及粗糙度有较大影
2) AFM figure
AFM图
1.
The AFM figure of film indicated that the film had fine and close texture.
发黑膜层的AFM图显示膜层具有很好的致密性。
3) AFM approach
AFM法
4) AFM force curve
AFM力曲线
1.
Study on adsorption behavior of thiol self-assembled monolayer on gold surface by AFM force curves;
硫醇自组装膜在金表面吸附行为的AFM力曲线研究
5) in-situ AFM
原位AFM
6) AFM probe
AFM探针
1.
This characteristic of etching processes will bring about some technical difficulties in fabricating AFM probe and reduces the realizable number of silicon tip per .
如此高的削角速率会给AFM探针的制作带来技术上的困难。
补充资料：AFM
分子式：
CAS号：
性质：用于研究固体材料表面结构的一种显微镜。它是通过检测样品表面和敏感元件之间的原子间相互作用力来研究物质的表面结构及性质。原子力显微镜测量对样品无特殊要求。
CAS号：
性质：用于研究固体材料表面结构的一种显微镜。它是通过检测样品表面和敏感元件之间的原子间相互作用力来研究物质的表面结构及性质。原子力显微镜测量对样品无特殊要求。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条