1) Integral intensity of polycrystal diffraction
多晶衍射积分强度
2) Diffraction intensity distribution
衍射强度分布
1.
Some studies are carried out on the diffraction characters of perfect bragg crystals in reflectivity with the dynamical theory of x-ray diffraction, some figures of the diffraction intensity distribution are given, and some calculations are given for the integral reflection intensity and the width of the diffraction intensity distribution.
利用x射线衍射动力学理论研究了完整布拉格反射型晶体衍射特性,给出晶体衍射强度分布图,并计算了完整晶体积分反射强度和衍射强度分布半高宽。
3) Diffraction intensity
衍射强度
1.
The influences of fill-sample depth on experimental results,such as peak position,half high width(FWHM) and diffraction intensity were investigated theoretically and experimentally with powder X-ray diffractometer.
从理论和实验两个角度研究了填样深度对多晶粉末X射线衍射仪中实验结果——峰位、半高宽(FWHM)、衍射强度的影响。
4) diffraction integral
衍射积分
1.
Based on the generalized Huygens-Fresnel diffraction integral,the analytic propagation expressions for Lorentz beams passing through first-order axisymmetric optical system are derived.
从广义惠更斯-菲涅耳衍射积分出发,导出了洛伦兹光束通过一阶轴对称光学系统传输变换的解析公式。
2.
Based on the misaligned diffraction integral formula for misaligned optical systems, the diffraction for misaligned Lohmann s fractional Fourier transformation system and quasi\|asymmetrically inhomogeneous medium are analysed, respectively.
利用失调光学系统的衍射积分公式 ,分析了失调的Lohmann分数傅里叶变换光学系统和准非对称非均匀介质的衍射特性 ,得到了两者具有相同的失调衍射积分表达式 ,表明两者具有等效性 ,从中提出了失调分数傅里叶变换新概念 。
3.
The diffraction formula of the hollow Gaussian beam propagating through a circle and a misaligned 4f optical system is obtained by using the ABCD and Collins diffraction integral formula,and the properties of the diffraction field is studied.
利用非准直光学系统的ABCD矩阵表达式和Collins衍射积分公式,推导出了空心高斯光束通过光阑和非准直4f透镜系统衍射场的解析表达式,并对衍射场进行了研究分析。
5) multi crystal diffractometer
多晶衍射仪
6) integral reflection intensity
积分反射强度
1.
Some studies are carried out on the diffraction characters of perfect bragg crystals in reflectivity with the dynamical theory of x-ray diffraction, some figures of the diffraction intensity distribution are given, and some calculations are given for the integral reflection intensity and the width of the diffraction intensity distribution.
利用x射线衍射动力学理论研究了完整布拉格反射型晶体衍射特性,给出晶体衍射强度分布图,并计算了完整晶体积分反射强度和衍射强度分布半高宽。
补充资料：多晶X射线衍射
用 X射线衍射法研究多晶样品的成分和结构的一种实验方法，也称粉末法。多晶是指由无数微细晶粒组成的细粉状样品或块状样品。
多晶衍射有照相法和衍射仪法两类。常用的粉末照相法为德拜-谢乐法（图 1）。相机为一金属圆筒，内径通常为57.3毫米或114.6毫米,样品装在圆筒的中心轴线上，通过马达带动使它不停地转动；紧贴内壁放置长条形X光底片；入射的单波长X射线经准直管作用在样品上，穿透样品后的 X射线进入射线收集器而被吸收。
当单波长Ｘ射线照到一个细晶上时，若某一晶面与入射线的交角满足布喇格方程（见晶体X射线衍射）的要求，则在衍射角2θ处产生衍射线，在底片上形成一衍射点(图2)。由于粉末样品中晶粒的取向是随机的，每一组晶面(hkl)都能给出相应张角为4θ的圆锥形衍射线，作用在长条底片上就形成了一对对弧线。测量任意一条衍射线与出射孔中心的距离L和入射孔与出射孔间的距离Lk，可算出该衍射线对应的衍射角θ，结合所用的波长λ，代入布喇格方程,可算出晶面间距d值。θ＝(L/Lk)×90°；d＝2λ/sinθ。用目测法或测微光度法测量各衍射线的强度I，就可获得一组d-I数据。将所得d-I数据与标准数据对照，即可鉴定样品的物相。
多晶衍射仪法的原理与照相法类似，只是用射线记数器记录衍射线的位置和强度，加上与电子计算机联用，可使测量的准确度高、分辨能力强且迅速方便，并能自动将样品的数据与计算机贮存的标准数据对照而鉴定样品的物相。
参考书目
H.P.Klug and L.E.Alexander, X-ray DiffractionProcedures for Polycrystalline and Amorphous Materials, 2nd ed., John Wiley & Sons, New York,1974.
多晶衍射有照相法和衍射仪法两类。常用的粉末照相法为德拜-谢乐法（图 1）。相机为一金属圆筒，内径通常为57.3毫米或114.6毫米,样品装在圆筒的中心轴线上，通过马达带动使它不停地转动；紧贴内壁放置长条形X光底片；入射的单波长X射线经准直管作用在样品上，穿透样品后的 X射线进入射线收集器而被吸收。
当单波长Ｘ射线照到一个细晶上时，若某一晶面与入射线的交角满足布喇格方程（见晶体X射线衍射）的要求，则在衍射角2θ处产生衍射线，在底片上形成一衍射点(图2)。由于粉末样品中晶粒的取向是随机的，每一组晶面(hkl)都能给出相应张角为4θ的圆锥形衍射线，作用在长条底片上就形成了一对对弧线。测量任意一条衍射线与出射孔中心的距离L和入射孔与出射孔间的距离Lk，可算出该衍射线对应的衍射角θ，结合所用的波长λ，代入布喇格方程,可算出晶面间距d值。θ＝(L/Lk)×90°；d＝2λ/sinθ。用目测法或测微光度法测量各衍射线的强度I，就可获得一组d-I数据。将所得d-I数据与标准数据对照，即可鉴定样品的物相。
多晶衍射仪法的原理与照相法类似，只是用射线记数器记录衍射线的位置和强度，加上与电子计算机联用，可使测量的准确度高、分辨能力强且迅速方便，并能自动将样品的数据与计算机贮存的标准数据对照而鉴定样品的物相。
参考书目
H.P.Klug and L.E.Alexander, X-ray DiffractionProcedures for Polycrystalline and Amorphous Materials, 2nd ed., John Wiley & Sons, New York,1974.
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
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