1) scanning probe microscope(SPM)
扫描探针显微镜(SPM)
2) SPM:scanning probe microscope
扫描式探针显微镜(SPM)
3) Scanning Probe Microscopy (SPM)
扫描探针显微术(SPM)
4) scanning probe microscope
扫描探针显微镜
1.
Overview of the mechanisms and applications of the scanning probe microscope series;
扫描探针显微镜系列及其应用综述
2.
An Introduction to CSPM-930 Scanning Probe Microscope;
国产CSPM-930型扫描探针显微镜介绍
3.
The Design of An Multimode Scanning Probe Microscope;
多功能扫描探针显微镜的设计与实现
5) SPM
扫描探针显微镜
1.
PROPERTIES OF Co QUANTUM ARRAYS INVESTIGATED BY SPM;
利用扫描探针显微镜研究Co量子有序阵列的特性
2.
Combine and design SPM based on commonly used platform of SPM;
在SPM通用平台上开发特殊功能扫描探针显微镜
6) Scanning Probe Microscopy
扫描探针显微镜
1.
Application of Scanning Probe Microscopy in Intrinsically Conducting Polymer Research;
扫描探针显微镜在导电聚合物研究中的应用
2.
Methods for quantitative measurement of drift in scanning probe microscopy;
扫描探针显微镜漂移的定量测量方法
3.
6MPa have been investigated by means of scanning probe microscopy (SPM).
用扫描探针显微镜(SPM)研究了Zr-4合金在高压釜中经360℃高温水腐蚀后氧化膜中的显微组织和晶粒形貌。
补充资料：SPM
分子式：
CAS号：
性质：又称微束质子X射线荧光（micro PIXE）分析或质子显微镜（proton microscope）分析。系用微米质子束对样品进行微区扫描的元素分析技术。基本原理是将高速质子束准直、聚焦或微米束轰击样品，质子与样品原子相互作用产生特征X射线，用Si(Li)探测器测定样品中元素的含量。特点是样品用量少（几个μm3）、灵敏度高（比扫描电镜高2～3个数量级）、检测限低（1×106～10×106）、精确度为10%～20%、空间分辨率为0.5～10μm，为非破坏性多元素（20～30个）同时分析，并可二维扫描，获得微区或一个点（～1μm）上的元素分布信息。近年来此技术在环境样品中如大气颗粒物（飞灰、煤尘）单个颗粒的元素分析也得到了应用。SPM是当代物理分析的高新技术，其应用范围及作用将日益扩大。
CAS号：
性质：又称微束质子X射线荧光（micro PIXE）分析或质子显微镜（proton microscope）分析。系用微米质子束对样品进行微区扫描的元素分析技术。基本原理是将高速质子束准直、聚焦或微米束轰击样品，质子与样品原子相互作用产生特征X射线，用Si(Li)探测器测定样品中元素的含量。特点是样品用量少（几个μm3）、灵敏度高（比扫描电镜高2～3个数量级）、检测限低（1×106～10×106）、精确度为10%～20%、空间分辨率为0.5～10μm，为非破坏性多元素（20～30个）同时分析，并可二维扫描，获得微区或一个点（～1μm）上的元素分布信息。近年来此技术在环境样品中如大气颗粒物（飞灰、煤尘）单个颗粒的元素分析也得到了应用。SPM是当代物理分析的高新技术，其应用范围及作用将日益扩大。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条