1) XRD
X射线衍射谱
1.
The actual surface morphology of AlGaN layer grown by MOCVD was analyzed using XPS and XRD.
用X光电子能谱和X射线衍射谱方法分析了MOCVD生长的AlGaN薄膜的实际表面形态和晶体结构 基于XPS测量结果 ,通过分析计算 ,发现实际表面除GaN外存在Ga2 O3和Al2 O3及其它与O有关的络合物构成的混合氧化物覆盖层 ,估计覆盖层厚度约 1。
2.
By employing X-ray diffraction(XRD) approach,this paper investigated the influences of milling time and Ni content on the samples.
用机械合金化方法制备了Fe100-xNix(x=10、20、30、40)系粉末样品,利用X射线衍射谱方法分别研究了球磨时间和Ni含量对样品微结构的影响,结果表明:Fe70Ni30样品经球磨24 h后就形成了过饱和的Fe(Ni)固溶体;经36 h机械球磨后的Fe100-xNix样品Ni含量x(x≤40 at%)越大,越不易形成单一的过饱和固溶体,且越易诱导α-Fe(bcc)产生向γ-Fe(fcc)的结构相变,相变所需的球磨时间愈短;经球磨相同时间80 h后,样品Fe70Ni30有非晶产物生成,而Fe80Ni20仍然是bcc结构的Fe(Ni)饱和固溶体,这表明Ni含量也会影响非晶变化的发生。
2) X ray diffraction
X射线衍射谱
1.
In this paper,the composition and spectra of Chinaese red granite and sesame white granite are studied by ICP AES,XRF,IR and X ray diffraction.
:本文用电感耦合等离子体原子发射光谱法、X荧光光谱法测定了中国红花岗石和芝麻白花岗石的成份、X射线衍射谱及红外光谱。
2.
94 buffers are grown on GaAs(100) substrates by molecular beam epitaxy and characterized by X ray diffraction and low temperature photoluminescence.
12 )超晶格结构 ,通过 X射线衍射谱和光致发光谱 ,对其结构特性和光学特性进行了研究 。
3) X-ray diffraction
X射线衍射谱
1.
Crystal structures of the GaN epilayers were characterized by X-ray diffraction (XRD), photoluminescence (PL) and Raman scattering.
采用快速辐射加热/低压-金属有机化学气相淀积(RTP/LP-MOCVD)方法分别以AlN和阳极氧化铝为缓冲层材料在Si衬底上外延生长GaN薄膜,通过X射线衍射谱(XRD)、光荧光谱(PL)、拉曼散射谱(RamanScattering)等手段对它们的微结构进行了表征和分析,结果指出AlN是优良的缓冲层材料。
4) X-ray diffraction spectrum
X射线衍射谱
6) XRD
X射线衍射光谱
1.
28 MeV Zn+ ion implantation in the GaInP/GaInAsP quantum well samples was studied by double-crystal high-resolution X-ray diffraction(HRXRD).
通过双晶X射线衍射光谱测量,定量地分析了由于离子注入所引起的晶格内应变。
补充资料：X射线粉末衍射法
分子式：
CAS号：
性质：在X射线衍射分析中，采用单色X射线和粉末状多晶样品进行衍射的一种方法。多晶试样大多数情况是多晶粉末，也可以是多晶片或丝。衍射线条的位置、强度，可用德拜法、聚焦法或针孔法等照相记录。粉末法主要用于物质鉴定、晶体点阵常数、多晶体的结构、晶粒大小、高聚物结晶度测定等。
CAS号：
性质：在X射线衍射分析中，采用单色X射线和粉末状多晶样品进行衍射的一种方法。多晶试样大多数情况是多晶粉末，也可以是多晶片或丝。衍射线条的位置、强度，可用德拜法、聚焦法或针孔法等照相记录。粉末法主要用于物质鉴定、晶体点阵常数、多晶体的结构、晶粒大小、高聚物结晶度测定等。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条