1) OIM
取向成像电子显微术
1.
METALLOGRAPHIC SAMPLE PREPARATION FOR OIM-EBSD;
取向成像电子显微术试样的制备
2) orientation image microscopy
电子显微取向成像
1.
In this paper,the fundamental principle,resolution,sample preparation and data treatment of orientation image microscopy are generally investigated.
本文从基本原理、设备构造、角度和空间分辩率、试样制备方法以及数据处理等方面,系统地介绍了一种新的材料研究方法——电子显微取向成像。
3) crystal orientation mapping(COM)
晶体取向显微成像
1.
The paper introduced a new technology in electron backscatter diffraction(EBSD)-crystal orientation mapping(COM) and its application in the research of iron and steel.
本文扼要介绍LINK OPAL电子背散射衍射(electronbackscatterdiffraction(EBSD))技术中的一种全新的图像—晶体取向显微成像图(crystal orientation mapping(COM)),并讨论晶体取向显微成像技术及其在钢铁材料研究中的应用。
4) axial bright field electron microscope image technique
轴上明场电子显微镜成像技术
5) multi-photon microscopy imaging techniques
多光子显微成像技术
6) electronography
电子显像术
补充资料：高分辨电子显微镜(见高分辨电子显微术)
高分辨电子显微镜(见高分辨电子显微术)
high resolution electron microscope
高分辨电子显微镜high resolution eleetronmieroseope见高分辫电子显微术。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条