1) gas logging unit circuit principle
气测单元电路原理
2) unit circuit test
单元电路测试
3) cell circuit
单元电路
1.
This paper proposes a new method for sizing and optimizing CMOS cell circuit.
在CMOS单元电路的参数自动生成和优化中提出了一个新的设计方法,其核心算法是基于小生境的遗传算法。
2.
The SRAM basic storage cell was discussed,and the basic principles and design rules of SRAM cell circuit were described.
首先从双稳态电路入手,分析了 SRAM6T 单元电路的工作原理和设计要求。
4) unit circuit
单元电路
1.
This method has already been used in the imitation procession of the unit circuit board.
该方法已在单元电路板的仿制过程中得到应用。
2.
Aiming at the characteristics of electronic specialty,the reform of curriculum content of simulation electronic technology should stand out the core status of unit circuit,pay attention to the training of electronic skills,increase new theoretic content,carry out the reform of practice training which take the enhancement of student′ comprehensive skills as the aim.
针对电子类专业的特点,对《模拟电子技术》课程内容进行改革;突出单元电路的核心地位,重视电子技能的训练,增加新的理论内容,进行以提高学生综合技能为目的的实训改革。
3.
Full adder is a base unit circuit of IC chip.
对集成芯片中一种常用单元电路——全加器,进行了结构和时延性能分析。
5) circuit unit
电路单元
1.
Furthermore, a new circuit unit is proposed to realize the fractional-order chaotic system.
并设计了一种传递函数的新电路单元用来实现分数阶共轭Chen混沌系统,利用Multisim2001电子工作平台进行了电路实验仿真。
6) circuit principle
电路原理
1.
Application of EDA simulative technology in circuit principle teaching;
电路原理教学中EDA仿真技术的应用
2.
Circuit Principle of Model SF-350 Slipform Paver;
SF—350型滑模式水泥混凝土摊铺机的电路原理
3.
Analyzing circuit principle of charger of GP88S walkie-talkie and reforming its adaptability;
GP88S对讲机充电器的电路原理分析及适应性改造
补充资料：集成电路测试原理
集成电路测试原理
integrated circuit test principle
J icheng diQniu Ceshi yuanll集成电路测试原理(integrated circult testpdnciple)集成电路(Ie)测试是指在研制、生产和使用IC时，对其主要电学特性及逻辑功能进行的测量和检验。测试的最终目的是保证所用IC产品的质量和可靠性。如在IC的研制开发过程中，为了验证逻辑设计、电路设计、版图设计和工艺设计是否正确，是否达到了预定的要求，就必须反复地进行测试一修改一再测试;在IC的生产过程中，由于IC制造工序复杂，生产的IC不可能完全没有故障，就需要通过测试进行挑选和分级;在IC投人使用时，可以通过测试来剔除那些失效的芯片，从而保证产品的可靠性。 集成电路的测试可分为目的测试和性能测试两大类。目的测试包括设计验证测试、生产测试、人库检验和产品组装后的系统测试。性能测试指参数测量和逻辑功能测试，参数测量又分直流(静态)参数测量和交流(动态)参数测量。 按照测试方式的不同，集成电路的测试还可分为离线测试和在线测试两种。 直流参数测量普遍采用加电压测电流和加电流测电压的方法，交流参数的测量则采用传统的时域和频域的方法，功能测试的基本方法是激励一响应法。最常用的测试模式有合格或不合格(〔孤〕/NO〔刃)模式、数据记录模式和验证模式。被测的集成电路类型有数字lC、模拟IC和数模混合信号IC。 数字IC测试 功能侧试是数字IC测试的主要内容，它用于验证器件是否能完成设计所预期的或规格所规定的工作或功能，其测试方法主要有比较法和存储响应法。如果有标准器件，可以采用与标准器件相比较的方法。随着IC集成度的提高，目前普遍采用存储响应法。其工作原理(见图l)是在计算机控制下，测试结果┌───┐ │驱动器│ └───┘ ┌─────┐│图形产生器│└─────┘图1数字IC刚试原理框图通过逻辑模拟或故障模拟产生所需要的测试图形序列并存储于测试系统的高速缓冲存储器(图形产生器)中。测试时，随测试主频率逐个读出，并经图形产生电路形成具有确定逻辑关系和定时关系的测试图形。将该测试图形序列经驱动器施加于被测器件的输人端，作为激励，并将测试图形序列的输出预期图形(预期响应)作为标准，逐拍与被测输出的响应进行逻辑比较，观察二者是否相同，以此来判别被测器件的逻辑功能是否正常。 功能测试最重要的部分是测试图形的生成，近年来已形成了一套较完整的测试生成理论。生成方法有确定性生成和非确定性生成两种。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条