1) fluorescence spectrometer
荧光光谱仪
1.
X-ray fluorescence spectrometer can analyze all elements from Be to U.
X-射线荧光光谱仪是能分析从Be至U之间所有的元素,快速准确,而且精度高、操作简单。
2.
A set-up of VUV excitation/fluorescence spectrometer is needed because its excitation wavelength range is in VUV.
由于PDP荧光粉的激发光源在紫外 真空紫外波段,因此需要一套真空紫外激发 荧光光谱仪装置来测量这些参数。
2) Fluorescence Spectrophotometer
荧光光谱仪
1.
Trouble Removal of Wavelength System in MPF-4 Fluorescence Spectrophotometer;
MPF—4荧光光谱仪波长系统的故障排除
2.
The trouble diagnosis and trouble removal of MPF_4 fluorescence spectrophotometer were introduced in this paper.
以两个实例较详细地介绍了ＭＰＦ＿４荧光光谱仪的故障分析及排除方
4) fluorescence energy spectrometer
荧光能谱仪
1.
The main circuit construct for Model EX-6000 X-fluorescence energy spectrometer was introduced.
简述EX-6000X荧光能谱仪的电路基本结构,并分析了各电路功能、工作原理,典型故障及其排除方法。
5) spectrofluorophosphorimeter
磷荧光谱仪
6) XRF
X荧光光谱仪
1.
The superiority and necessity of XRF to batch quality control in float glass industry were stressed and the use of mathematical statistics was advanced.
介绍了X荧光光谱仪检验技术在浮法玻璃混合料质量检测中的优势和应用。
补充资料：X射线荧光光谱仪
一种射线式分析仪器,是X射线分析仪器的一种常用形式。X射线荧光光谱仪能分析原子序数 12～92的所有元素，选择性高，分析微量组分时受基体的影响小，在地质、采矿和冶金等部门应用很广。
X射线是用高速电子轰击原子的内层电子,使之处于高激发状态，同时外层的电子跃迁到缺少电子的内层轨道。在此过程中会伴随着以电磁波形式释放的能量。这种释放能量的电磁波能量大，波长小，肉眼不可见，称之为X射线。
如果用高速电子激发产生的X射线又作为激发源(可称之为一次X射线)去轰击别的原子的内层电子，同样可产生X射线，只是这种X射线的能量较一次X射线低,波长也较长,这种射线称为二次X射线或X射线荧光、荧光X射线。 X射线荧光的波长是以受激物质（待测物质）的原子序数为特征的，原子序数越大的物质波长越短。各种不同的元素都有本身的特征X射线荧光波长，这是用X射线荧光原理的X射线荧光光谱仪进行定性分析的依据;而元素受激发射出来的特征X 射线荧光的强度则取决于该元素的含量，这是定量分析的依据。
X射线荧光光谱仪的主要组成部分是一次X射线源和样品室、分光晶体和平行光管、检测器和记录显示仪器(见图)。一次X射线源用X光管,它产生的一次X射线轰击样品表面,使样品激发出二次X射线。二次X射线经平行光管变成一束平行光以后，投射到与平行光束呈夹角 θ的分光晶体晶面上。射线在分光晶体面上的反射角与平行光束的夹角为2θ。分光晶体在分析过程中是回转的，即θ是连续变化的，θ的变化会使反射光的波长随之变化，故2θ的具体值是定性分析的依据。这种变化波长的反射线投射到与分光晶体联动的检测器上，检测器便输出一个与平面分光晶体反射线强度成比例的信号，它是定量分析的依据。记录显示仪表的记录纸移动的距离与2θ有关，所以记录下来的曲线就是荧光光谱图，其横坐标是波长，纵坐标是光强。分析光谱图就可以得到定性分析和定量分析结果。
X射线是用高速电子轰击原子的内层电子,使之处于高激发状态，同时外层的电子跃迁到缺少电子的内层轨道。在此过程中会伴随着以电磁波形式释放的能量。这种释放能量的电磁波能量大，波长小，肉眼不可见，称之为X射线。
如果用高速电子激发产生的X射线又作为激发源(可称之为一次X射线)去轰击别的原子的内层电子，同样可产生X射线，只是这种X射线的能量较一次X射线低,波长也较长,这种射线称为二次X射线或X射线荧光、荧光X射线。 X射线荧光的波长是以受激物质（待测物质）的原子序数为特征的，原子序数越大的物质波长越短。各种不同的元素都有本身的特征X射线荧光波长，这是用X射线荧光原理的X射线荧光光谱仪进行定性分析的依据;而元素受激发射出来的特征X 射线荧光的强度则取决于该元素的含量，这是定量分析的依据。
X射线荧光光谱仪的主要组成部分是一次X射线源和样品室、分光晶体和平行光管、检测器和记录显示仪器(见图)。一次X射线源用X光管,它产生的一次X射线轰击样品表面,使样品激发出二次X射线。二次X射线经平行光管变成一束平行光以后，投射到与平行光束呈夹角 θ的分光晶体晶面上。射线在分光晶体面上的反射角与平行光束的夹角为2θ。分光晶体在分析过程中是回转的，即θ是连续变化的，θ的变化会使反射光的波长随之变化，故2θ的具体值是定性分析的依据。这种变化波长的反射线投射到与分光晶体联动的检测器上，检测器便输出一个与平面分光晶体反射线强度成比例的信号，它是定量分析的依据。记录显示仪表的记录纸移动的距离与2θ有关，所以记录下来的曲线就是荧光光谱图，其横坐标是波长，纵坐标是光强。分析光谱图就可以得到定性分析和定量分析结果。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条