1) Gas analysis mass spectrometers(GAM)
气体分析质谱(GAM)
2) mass spectrometry
质谱气体分析法
3) gas chromatography-mass spectrometric analysis
气体色谱/质谱分析
4) mass spectrum analyses of remained gas
残气质谱分析
1.
In the meantime, we successively adopted some technology means such as mass spectrum analyses of remained gases, fast examination without decrease of chronic gas leak and helium mass spectrum leak hunting to look for lapse causes.
其间 ,我们先后采用了残气质谱分析、慢性漏气的快速无损检测以及氦质谱检漏等技术手段来寻找失效原因。
5) GC-MS
气相色谱-质谱分析
1.
Analysis of Chemical Constituents of Extract of Tilia mongolica Barks by GC-MS;
蒙椴树皮提取物化学成分的气相色谱-质谱分析
2.
Chemical Component of Artemisia Sphaerocephala Krasch Seed Oil by GC-MS;
利用超临界CO2流体提取沙蒿籽油,并对油脂的化学成分进行气相色谱-质谱分析。
6) GC/MS
气相色谱-质谱分析
1.
Extraction of Herpetospermum Pedunculosum(Ser.) Baill. Seed Oil with Supercritical Carbon Dioxide and Analysis of the Fatty Acids Using GC/MS;
超临界CO_2萃取波棱瓜种子油及脂肪酸的气相色谱-质谱分析
补充资料：二次离子质谱分析
二次离子质谱分析
secondary ion mass spectrometry
二次离子质谱分析seeondaryi。n massspectrometry用质谱分析研究一次离子束轰击固体表面时溅射出来的二次离子，从而获得固体表面组成信息的方法。它能以很高的灵敏度(ppm至ppb级)对固体材料进行表面微区分析、深度分析、块体分析及图象分析，其范围包括从氢到铀的各种元素和同位素，目前深度分辨率已达30埃，成象的横向分辨率可达300埃。 二次离子发射机制是二次离子质谱的物理基础，目前有以下几种机理:①局部热力学平衡机制(LTE)。C.A.安德森和J.R.欣索恩认为，当一次离子轰击固体表面时，溅射区形成一层密集等离子体，其中的离子、电子、原子及分子之间处于局部热平衡状态，它们的平衡浓度可用萨哈方程来预言。②动力学模型。P.乔伊斯和R.卡斯坦等认为，固体表面发出的粒子呈中性准稳态，在表面附近这些粒子发生再激发而形成二次离子，并伴随俄歇电子发射。③键断模型。当一次离子束轰击化合物表面时，化合键断裂而形成原子(或分子)离子。④量子力学模型。J.M.施罗尔假设溅射原子以中性非激发状态离开表面，然后由于原子的价电子发生量子力学跃迁，过渡到金属导带顶层而引起电离。 二次离子质谱仪器可分为两类:①能显示离子图象的离子质谱仪，如离子探针;②不显象，有大束二次离子质谱仪。(陈廉)
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条