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1)  laser annealing
激光退火
1.
During laser annealing, with the increasing of the power density, the peak ratio ID/IG of Raman spectra of an a- C:H film without nitrogen in- creases and the peak of graphite shifts from 1550 to 1598 cm- 1, indicating that the film has graphi- .
由于 C- N键的键能比 C- H键的键能大得多,因此在激光退火过程中 C- N 键不易分解。
2.
They include laser doping, laser annealing, laser depositing film, solid-phase reaction induced by laser and laser photolithograph.
这些应用大致涵盖激光掺杂、激光退火、激光沉积薄膜、激光引发固相反应和激光光刻等几方面。
3.
Nanocrystalline silicon carbon(nc-SiC)from amorphous silicon carbon films have been obtained through XeCl excimer laser annealing.
采用XeCl准分子脉冲激光退火技术制备了纳米晶态碳化硅薄膜(nc-SiC),并对薄膜的喇曼光谱和光致发光(PL)特性进行了分析。
2)  Low temperature laser-annealing
低温激光退火
3)  laser scan annealing
激光扫描退火
4)  ArF excimer laser annealing
ArF准分子激光退火
5)  surface free technology by laser annealing
激光退火表面释放技术
6)  Excimer laser annealing
受激准分子激光退火(激光再结晶)
补充资料:激光退火


激光退火
laser annealing

激光退火laser annealing用激光对材料进行退火。又称激光处理。E.1.什图尔科夫(Shtyrkov)等于1976年提出用激光对离子注入的半导体进行退火,以消除注入损伤和激活注入杂质。此法被广泛用于金属和绝缘体等各种材料的退火处理。 激光退火分脉冲激光退火和连续波激光退火两种。激光退火过程是在激光辐照下注入损伤层的再结晶过程。一般脉冲激光退火是液相结晶过程,而连续波激光退火是固相结晶过程。激光退火一般是一种热过程。但是对脉冲激光退火过程的解释有两种:①热熔化模型。认为激光辐照使样品表面层在高温下熔化,然后结晶。②非热模型。认为在极窄的激光脉冲作用下,样品表面温度不超过300一400℃,发生的不是热熔化再结晶过程,而是非热的二类相变过程。 离子注入激光退火法在20世纪70年代末就已受到广泛重视。因为激光辐照可以对材料局部进行短时间高温处理,防止了传统热退火中出现的杂质再扩散和热缺陷的产生。激光退火杂质激活率很高,甚至可大大超过杂质的固溶度。但是,脉冲激光辐照在半导体中引入深能级缺陷,而且激光退火均匀性较差,效率也较低,在器件生产中逐渐被后发展的瞬时热退火所取代。但是超窄脉冲激光在材料科学研究中却有了新的发展。许多材料在脉冲宽度小于微微秒(甚至小至10~’5秒)的激光作用下,发生非平衡过程,材料的许多特性与平衡状态差异很大,是材料科学研究中的一个重要方向。 (鲍希茂)
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