1) Electron Backscattered Diffraction Microscope
背散射电子显微镜
2) proton scattering microscope
质子散射显微镜
3) Backscattered Electron Imaging
背散射电子显像
4) Transmission electron microscope
透射电子显微镜
1.
Development of Digital Imaging System for transmission electron microscope;
透射电子显微镜数字成像系统的研制
2.
Methods By transmission electron microscope, the structure changes about tonoplast in RP and RCAS were observed.
方法 通过透射电子显微镜对葛根和刺五加药材细胞内液泡膜的变化进行观察。
3.
A study of the microstructures for the Al2O3 ceramic thin film in the laser -remelted area on a ZnAl - based alloy was performed by means of a transmission electron microscope associated with the techniques of optical microscope, scanning electron microscope, Auger electron spectroscope, and X ray diffraction.
用透射电子显微镜,并结合光学显微镜、扫描电子显微镜、俄歇电子能谱仪、X射线衍射等技术对锌铝基Al_2O_3陶瓷复合层激光重熔区的组织进行了分析。
5) transmission electron microscopy
透射电子显微镜
1.
8vol%TiB2 alloy with duplex structure consisting of primary equiaxed γ-grains and lamellar α2+γ colonies after creep deformation at elevated temperatures (650℃~750℃) under 250 MPa~350 MPa was studied by transmission electron microscopy (TEM).
利用透射电子显微镜对一种由等轴状γ和(γ+α2)区域组成的双态组织Ti-47Al-2Nb-2at%Mn+0。
2.
The core/shell latex par- ticle which was characterized by transmission electron microscopy (TEM)was elucidated in detail by two categories,i.
介绍了核壳型乳胶粒子的基本形态结构和常用的表征手段,详细说明了用透射电子显微镜(TEM)表征核壳型乳胶粒子结构的两种情况,即分析透射电子显微镜法、普通透射电子显微镜法(免染色法和选择性染色法),并给出了它们的适用范围。
3.
The sizes of SnO 2 nanocrystallines were determined by dynamic light scattering, X-ray diffraction, and computer analysis of nanocrystalline images of transmission electron microscopy.
通过动态光散射、X射线衍射和晶粒透射电子显微镜像测量 ,确定了SnO2 晶粒的线度 。
6) TEM
透射电子显微镜
1.
Fabrication of TEM Samples of Butted Films PLD;
透射电子显微镜对接膜样品的制作
2.
The Study of Current-Invariable Lens Power Supply for TEM;
透射电子显微镜透镜稳流电源的研究
3.
The observation of transmission electron microscopy(TEM) proved that the exfoliation nanocomposites were prepared.
透射电子显微镜考察表明,所制备的乙丙橡胶/OMM T纳米复合材料为剥离型结构;力学性能测试结果表明,当有机土含量仅为3份时,复合材料硫化胶的扯断强度是纯胶体系的5。
补充资料：电子显微镜
| 电子显微镜 electron microscope 用电子束代替光学显微镜的光束来放大样品图像的显微镜。高速电子束波长比光波波长短几个数量级，因而电子束具有更高分辨率。1931年第一台透射电子显微镜问世。经过发展，电子显微镜已能观察原子在晶体中的排列和看到单个重原子在载膜上的迁移 。电子显微镜由电子枪、电子透镜、试样台、图像显示和真空系统等组成，可分为4类：① 透射电子显微镜。其加速电压为几万至十万伏，成像方式与光学显微镜相似，放大后的电子图像在荧光屏上显示，也可用照相方法记录，放大倍数可达100 万倍，用于放大图像和进行元素和晶体结构分析。②扫描电子显微镜。利用偏转器使电子束斑在样品表面上进行光栅扫描，收集被扫描表面上发出的次级电子，用次级电子流强度来调制同步扫描的显像管的亮度，以直接观察固体表面形貌。其分辨本领达 30～60埃。③扫描透射电子显微镜。其成像方式与扫描电子显微镜相似，但接收的不是次级电子而是透过极薄样品的透射电子。分辨本领达3埃。④超高压电子显微镜。采用300万伏的加速电压。分辨本领达 1.5 埃。用于观察金属、矿物和其他晶体样品中的原子排列。
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参考词条