1) particle detection technique
测粒技术
1.
The application of the laser diffraction and scattering particle detection technique in the analysis of PVC paste particle size was introduced.
介绍了激光衍射散射式测粒技术在聚氯乙烯糊树脂(PPVC)粒径分析中的应用情况,讨论了实验条件的优化。
2) particle monitoring technique
颗粒检测技术
1.
Particle monitoring techniques are briefly illustrated and the application features are analyzed with several particle monitoring techniques.
介绍了超滤膜去除颗粒物的特点,指出保证膜出水水质监测和控制的关键指标是颗粒物含量,分析了给水处理领域几种颗粒检测技术的应用特点,对浊度、颗粒计数值、颗粒综合指数及微生物指标的关系进行研究和分析表明,颗粒数是超滤膜出水水质的关键性检测指标,可代替或补充浊度指标。
3) particle detection technology
粒子探测技术
5) particle imaging velocimetry(PIV) measurement
粒子图像测速技术测量
6) PIV
粒子图像测速技术
1.
The most promising solution to this challenge is the use of computational fluid dynamics(CFD) in combination with particle image velocimetry(PIV),which will be the future trend in the investigation of solar thermal systems.
利用计算流体力学和粒子图像测速技术相结合来分析流场是化学工程相关研究的发展趋势。
2.
Flow visualization and velocity measurement experiments on the turbulent boundary layer flow around the smooth and grooved surfaces of gyroidal objects were carried out in a towing tank by using a PIV measurement system mounted on the towing carriage.
为了揭示具有减阻功能的沟槽面湍流边界层与光滑面湍流边界层流动的差异,结合粒子图像测速技术对流场无干扰及高精度全场测量的技术优势,在拖曳水池中,采用随车式PIV测量系统,开展了水下回转体分别粘贴微沟槽薄膜和光滑薄膜时的壁面湍流边界层流动显示及速度测量试验,对比分析了微沟槽薄膜湍流边界层和光滑薄膜湍流边界层的速度、速度梯度和流线分布图,说明了微沟槽对湍流边界层流动特征的影响规律:微沟槽薄膜有利于保持回转体壁面边界层流动的稳定,能够减少壁面涡的强度和发生频率,并降低近壁面区的速度梯度。
3.
In this paper,PIV(Particle Image Velocimetry) is applied to study the characteristic of in-cylinder flow field under different valve lifts.
本文采用粒子图像测速技术研究了汽油机在不同气门升程下的气体流动规律。
补充资料：长度计量技术：光栅测长技术
利用光栅產生的莫尔条纹测量位移和轮廓形状等的长度计量技术。测量位移时﹐将计量光栅副中的光栅尺和指示光栅分别固定在长度测量工具或机床等的移动件(例如滑架)和不动件(例如机床导轨)上。两者相隔一个很小的间隙(一般为 0.05～0.1毫米)。当滑架移动时﹐出现在光栅副上的莫尔条纹的週期性光强变化﹐通过光电转换元件转换为正弦波形电信号﹐经放大﹑整形﹑细分﹑计数和显示等电子部分后即可得出光栅位移量。由光源﹑计量光栅副和光电转换元件等组成的部件称为光栅式长度传感器。由光栅式长度传感器和放大﹑整形﹑细分﹑计数和显示等电子部分组成的系统称为光栅测量系统(见图 光栅测量系统 )
﹐常用具有相位依次差1/4线距的四组线条的光栅作为指示光栅。当以圆光栅副代替长光栅副时﹐类似的测量系统可用於测量角位移。长﹑圆光栅测量系统的精确度分别可达 1微米/1000毫米和0.5/360°以上。随著光栅製造技术和电子技术的发展﹐从20世纪50年代开始应用光栅测长技术来测量位移。这种方法已用於三坐标测量机﹑数字显示工具显微镜﹑渐开线测量仪﹑齿轮单面嚙合检查仪和电子千分尺等的测量系统中﹐也常用於数字控制机床的定位反馈系统和其他机床的定位系统中。70年代又开始利用莫尔轮廓图测量表面轮廓形状和变形等。
﹐常用具有相位依次差1/4线距的四组线条的光栅作为指示光栅。当以圆光栅副代替长光栅副时﹐类似的测量系统可用於测量角位移。长﹑圆光栅测量系统的精确度分别可达 1微米/1000毫米和0.5/360°以上。随著光栅製造技术和电子技术的发展﹐从20世纪50年代开始应用光栅测长技术来测量位移。这种方法已用於三坐标测量机﹑数字显示工具显微镜﹑渐开线测量仪﹑齿轮单面嚙合检查仪和电子千分尺等的测量系统中﹐也常用於数字控制机床的定位反馈系统和其他机床的定位系统中。70年代又开始利用莫尔轮廓图测量表面轮廓形状和变形等。 说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条