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1)  silica based waveguide film
SiO_2基波导薄膜
2)  silicon-based SiO_2 films
硅基SiO_2薄膜
3)  waveguide iris
波导薄膜
1.
Analysis of the principle of thickness measurement of waveguide iris;
波导薄膜厚度测量原理的理论分析
4)  Film waveguide
薄膜波导
1.
n this paper,a method for measuring the parameters of the absorbing thin film waveguide by prism coupling is introduced,which can determine the refractive index and thickness of waveguide by measuring the position of absorbing line of reflected light spot from prism.
介绍了一种用棱镜耦合法测量吸收性薄膜波导参数的一种方法,它是由测得棱镜底部反射光斑中模的吸收线位置来确定薄膜的折射率和厚度。
5)  La doped
TiO_2-SiO_2薄膜
6)  TiO_2/SiO_2 thin film
TiO_2/SiO_2薄膜
补充资料:波导通信(见毫米波通信)


波导通信(见毫米波通信)
wave guide communication

  bodao tongxin波导通信(wave guide communieation)见毫米波通信。
  
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