1) quartz wave plate
石英波片
1.
According to the birefringence dispersion character of a quartz crystal,the theoretical analysis and numerical simulation about the polarization interference spectrum are given,and then a systematic way of measuring the phase retardation and thickness of the quartz wave plate,which is based on the principle of polarization interferometry,is put forward.
根据石英晶体双折射率的色散特性,对石英波片的偏光干涉谱进行了理论分析和数值模拟,提出了一种石英波片延迟量和厚度的偏光干涉标定法。
2) λ/4 quartz wave-plate
石英1/4波片
1.
Rotation character of λ/4 quartz wave-plate;
石英1/4波片旋光特性研究
3) monolithic quartz crystal filter
单片石英晶体滤波器
4) Quartz Crystal
石英晶片
1.
With the quartz crystal s broader application in the field of electron, Home quartz crystal industry develops rapidly.
本文阐述了一种基于DSP的新型频率监控系统的开发研究，该系统能在线检测石英晶片在研磨过程中的不断变化的频率，自动控制晶片研磨厚度。
5) quartz crystal wafer
石英晶片
1.
Design of the measurement and control system of quartz crystal wafer sorting machine in a π-network;
π网络石英晶片自动分选机测控系统设计
2.
Quality of quartz crystal wafer is determined by its electrical parameters, so it is of great importance to measure its parameters accurately in the process of manufacture.
石英晶片电参数决定了其产品质量优劣 ,因此在石英晶片生产加工过程中精确测试其电参数尤为重要。
6) quartz pendulous reed
石英摆片
1.
Accurate measurement method for parameters of quartz pendulous reed based on the vision image;
基于视觉图像的石英摆片参数精密测量方法
2.
The Research of the Measurement Method of Quartz Pendulous Reed Geometric Size Based on Visual Measurement;
基于视觉测量的石英摆片几何尺寸测量方法的研究
3.
Measurement of the vibration of a quartz pendulous reed based on multiple structuring elements and parameter mapping
基于变结构元与参数映射的石英摆片参数测量
补充资料：四分之一波片
一定厚度的双折射单晶薄片。当光法向入射透过时，寻常光（o光）和非常光（e光）之间的位相差等于 π/2或其奇数倍，这样的晶片称为四分之一波片或 1/4波片。当线偏振光垂直入射1/4波片,并且光的偏振和云母的光轴面（垂直自然裂开面）成θ角，出射后成椭圆偏振光。特别当θ=45°时，出射光为圆偏振光。
用其他双折射晶体如方解石、石英，来制 1/4波片（或二分之一波片），因晶体的两折射率相差较大，又无天然裂开面，所以要磨得很薄，加工困难。如使厚度增加到，可减小加工困难。其中N是个较大的整数，no和ne分别是o光和e光的折射率。
利用四分之一波片和一个检偏镜，按一定的步骤可以检验各种偏振光。先只用检偏镜，如果虽改变检偏镜的取向而待检光光强没有变化，则可按表1所列的方法进行；如果看到了光强有最大，则可按表2所列的进行。
见光的偏振、线偏振光、椭圆偏振光。
用其他双折射晶体如方解石、石英，来制 1/4波片（或二分之一波片），因晶体的两折射率相差较大，又无天然裂开面，所以要磨得很薄，加工困难。如使厚度增加到，可减小加工困难。其中N是个较大的整数，no和ne分别是o光和e光的折射率。
利用四分之一波片和一个检偏镜，按一定的步骤可以检验各种偏振光。先只用检偏镜，如果虽改变检偏镜的取向而待检光光强没有变化，则可按表1所列的方法进行；如果看到了光强有最大，则可按表2所列的进行。
见光的偏振、线偏振光、椭圆偏振光。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条