2) scanning total reflection
扫描全反射
3) Attenuated Total Reflection(ATR)
衰减全反射
1.
A new method by which several light beams can be synchronously modulated based on attenuated total reflection(ATR) polymer electrooptic modulator with single pair of electrodes is proposed.
衰减全反射结构的电光调制器,其每一个衰减全反射(ATR)峰的位置分别对应于一个导波共振模式。
4) Attenuated total reflection (ATR)
衰减全反射
1.
In an Attenuated Total Reflection (ATR) multi-layers configuration, light reflectivity can be highly dependent on layer parameters such as the layer thickness and refractive index.
衰减全反射(ATR, Attenuated Total Reflection)技术,其反射光的空间强度和频谱成分会受到结构参数的影响和控制,反射光携带了结构本身的信息,它适合平面工艺,可通过表面等离子波增强,其波导介质样品具有多样灵活性。
5) Attenuation total reflection
衰减全反射
1.
The application of the Electro-optic polymer light modulator with attenuation total reflection configuration is investigated by the transmission of the video signal.
该文在已制作成的衰减全反射电光调制器的基础上,进一步对它在视频传输上的应用进行了实验研究,结果表明,该衰减全反射电光调制器可以实现彩色视频全电视信号的良好传输。
6) Attenuated total reflection
衰减全反射
1.
This paper presents a rapid method for the characterization of sulphonated condensationpolymerized products of phenolphthalein and dichlorodiphenylsulfone (PDC) membrane by using infrared attenuated total reflection (IRATR) and diffuse reflectance (DR) spectroscopy.
采用漫反射及衰减全反射红外技术，快速鉴定酞侧基聚砜膜（ＰＤＣ）的改性水平，得到了磺化后—ＳＯ３Ｈ基团的红外光谱差谱。
2.
A simultaneous quantification measurement method of glucose-6-phosphate(G6P) and fructose-6-phosphate(F6P) was developed using a Fourier transform infrared(FTIR) spectrometer and attenuated total reflection(ATR) techniques.
利用傅里叶变换红外光谱(FTIR)和衰减全反射(ATR)技术,建立了一种葡萄糖-6-磷酸(G6P)和果糖-6-磷酸(F6P)同时定量测量的方法。
3.
The fabrication and characteristics of a polymeric electro-optic modulator with double channels in attenuated total reflection(ATR) configuration,made of a thermally crosslinkable polyurethane,has been investigated.
研究了交联型聚氨酯材料集成衰减全反射型双通道聚合物波导电光调制器的制备和性能。
补充资料：衰减全反射
入射面内偏振的单色平面光波在密－疏媒质的界面上全反射时，光疏媒质中所形成的迅衰场(见衰减波)能量可以被耦合到金属或半导体的表面上而使表面等离激元(SP)或表面极化激元共振激发。全反射的光强因而会发生剧邃衰减的现象。
利用光学中的迅衰场与SP相耦合衰减全反射方法是在1968年由A.奥托提出。奥托利用棱镜的全反射以产生迅衰场，并且由于迅衰场具有沿棱镜法线方向指数衰减的性质，所以被研究的表面必须与棱镜的全反射面相贴近到小于微米的空隙时才有可能使迅衰场的能量耦合到表面上。这种安排被称为奥托装置（图1）。1971年E.克雷奇曼把厚度约为500┱的金属薄膜，直接蒸镀到棱镜的全反射面上,也同样获得了在金属-真空（或其他媒质）界面上对SP的耦合，这种安排被称为克雷奇曼装置（图2）。
由于SP的激励是沿界面传递的，入射光的波矢沿界面的分量与SP的波矢相匹配时才能满足共振激发的条件，这时候入射光的能量可以通过迅衰场而耦合到SP使之激励,而反射率应为100％的全反射光强因而受到了严重的衰减。匹配可以通过改变入射角或改变入射光的波长来实现。反射率随入射角或波长改变的曲线称为衰减全反射谱（ATR谱，图3）。SP的激发反映在ATR谱中为一具有洛伦兹线型的共振吸收峰(见光的吸收)，峰的位置、半宽度及峰值与承受SP激发的媒质的介电常数及膜层或空气隙的厚度有密切的关系。由于SP只局限在界面的附近,所以ATR谱只反映出界面的特性而与媒质的体内因素无关。若是界面的状态发生了变化，例如形成了过渡层，界面增加了粗糙度以及吸附了其他分子等等都会引起ATR谱中的共振峰的位置、宽度及峰值的改变,所以 ATR是一种研究表面或界面光学性质的十分灵敏的方法,由于ATR可以在金属－真空界面、金属－电介质界面上均能实现,因之ATR方法已成为研究表面物理现象的一种具有发展前途的方法。
用极性半导体（如GaP）代替奥托装置中的金属,测量它的ATR谱，可确定表面极化激元的频率－波矢关系。
利用光学中的迅衰场与SP相耦合衰减全反射方法是在1968年由A.奥托提出。奥托利用棱镜的全反射以产生迅衰场，并且由于迅衰场具有沿棱镜法线方向指数衰减的性质，所以被研究的表面必须与棱镜的全反射面相贴近到小于微米的空隙时才有可能使迅衰场的能量耦合到表面上。这种安排被称为奥托装置（图1）。1971年E.克雷奇曼把厚度约为500┱的金属薄膜，直接蒸镀到棱镜的全反射面上,也同样获得了在金属-真空（或其他媒质）界面上对SP的耦合，这种安排被称为克雷奇曼装置（图2）。
由于SP的激励是沿界面传递的，入射光的波矢沿界面的分量与SP的波矢相匹配时才能满足共振激发的条件，这时候入射光的能量可以通过迅衰场而耦合到SP使之激励,而反射率应为100％的全反射光强因而受到了严重的衰减。匹配可以通过改变入射角或改变入射光的波长来实现。反射率随入射角或波长改变的曲线称为衰减全反射谱（ATR谱，图3）。SP的激发反映在ATR谱中为一具有洛伦兹线型的共振吸收峰(见光的吸收)，峰的位置、半宽度及峰值与承受SP激发的媒质的介电常数及膜层或空气隙的厚度有密切的关系。由于SP只局限在界面的附近,所以ATR谱只反映出界面的特性而与媒质的体内因素无关。若是界面的状态发生了变化，例如形成了过渡层，界面增加了粗糙度以及吸附了其他分子等等都会引起ATR谱中的共振峰的位置、宽度及峰值的改变,所以 ATR是一种研究表面或界面光学性质的十分灵敏的方法,由于ATR可以在金属－真空界面、金属－电介质界面上均能实现,因之ATR方法已成为研究表面物理现象的一种具有发展前途的方法。
用极性半导体（如GaP）代替奥托装置中的金属,测量它的ATR谱，可确定表面极化激元的频率－波矢关系。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条