1) Particle induced X-ray emission spectrometry
粒子激发X射线光谱
2) Xray Fluorescence Spectrometry
粒子激发X射线发射光谱分析
3) Proton induced X-ray emission spectrometry
质子激发X射线光谱
4) X-ray excited emission spectra
X射线激发发射光谱
5) x-ray excited luminescence spectrum
X射线激发发光光谱
1.
The doping ions improve the transmittance and the x-ray excited luminescence spectrum intensity.
掺杂的离子改善了晶体的透过率和X射线激发发光光谱强度。
6) X-ray excited optical luminescence
X射线激发发光谱
1.
X-ray absorption fine structures(XAFS)and X-ray excited optical luminescence(XEOL)at the Si K and Si L3,2 edge have been used to investigate the optoelectronic properties of Silicon nanowires.
采用X射线吸收精细结构谱(XAFS)和X射线激发发光谱(XEOL),在Si的K边和L3,2边研究了硅纳米线的光电特性。
补充资料：粒子激发X射线分析
分子式：
CAS号：
性质：用带电粒子(例如质子、α粒子、重离子等)激发待测元素，随后探测其退激时发射出的特征X射线的分析方法。其中应用最广的是质子激发X射线发射分析。
CAS号：
性质：用带电粒子(例如质子、α粒子、重离子等)激发待测元素，随后探测其退激时发射出的特征X射线的分析方法。其中应用最广的是质子激发X射线发射分析。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条