1) lattice parameter
点阵参数
1.
Determing lattice parameter of metallic Aluminum by the method of line pair;
线对法测定金属铝点阵参数
2.
Determination of the solid solubility of Fe_(2+x)Ti_(1-x)Sn_y by the lattice parameter method
点阵参数法测定Fe_(2+x)Ti_(1-x)Sn_y固溶度
3.
Because the atomic radius of Ce was larger,adding trace amounts of the Ce to the alloy causes distortion of lattice parameter.
由于Ce原子半径大,Ce的添加可使合金点阵参数发生畸变,合金强度、硬度得到进一步提高,并有助于提高触点材料的耐磨性。
2) lattice constant
点阵参数
1.
The lattice constant of the co.
采用不同沉积工艺得到的TiN涂层高速钢的物相主次不同 ;涂层宏观残余应力呈压应力状态 ,应力状态主要与膜 /基材料的热力学性能的差别有关 ;不同沉积工艺得到的TiN涂层高速钢的晶粒度约 0 1μm ,其对涂层的耐磨性影响不大 ,微观残余应力对耐磨性起了很大作用 ;不同沉积工艺得到的TiN涂层的点阵参数偏大 ,这主要是由涂层的微观残余应力和原子置换引起的 ;摩擦学实验表明以 ( 111)晶面择优取向的试样的耐磨性最
3) lattice parameter
栅格参数;晶格参数;点阵参数
4) lattice parameter
点阵参量
1.
Calculating the lattice parameter of series TiO2 samples, and combining the grain - size and substructure pa-rameter, we found that there was lattice distortion at the nanocrystalline TiO2 powder.
对系列粉晶进行了X射线衍射点阵参量计算，结合所得到的晶粒度和微结构参数，发现纳米TiO2粉晶组元中存在着晶格畸变。
5) coincidence site lattice parameter
重位点阵特征参数
1.
This technique not associated with Kikuchi patterns is introduced in this paper and is developed to precisely determine electron beam direction B and coincidence site lattice parameters l/θ.
本文介绍了不依赖菊池花样实现系统倾转样品的方法，并采用该技术，发展了不依赖菊池花样精确测定电子束方向Ｂ和重位点阵特征参数ｌ／θ的两种方法。
6) parametric matrix
参数矩阵
1.
About linear empirical Bayes estimates of the parametric matrix;
关于参数矩阵的线性经验Bayes估计
补充资料：点阵平面指数和点阵方向指数
在金属学问题中，往往需要涉及点阵中某个晶面和晶向。晶体的晶面和晶向，可用密勒指数（Miller in-dices)的规定符号来表示。取平行于晶胞边棱的三个轴x,y，z，每根轴分为长度与晶胞边长(a,b,c)相等的等分，沿各轴的距离就用这些边长的倍数来表示。当标志一个晶面时，先确定此平面在三根轴上的截距，然后取截距的倒数并通分，即化为同分母的分数。截距的倒数便成为 h/n，k/n，l/n 的形式，这里 h，k，l是整数，n是公分母,把整数h，k，l括入一个圆括号内,就得到了晶面的密勒指数（h k l），简称晶面指数。图1所示晶面在x，y，z三根轴的截距相应为2，3，1，OP＝2,OQ＝3,OR＝1,倒数各为1/2,1/3，1，公分母为6，因此截距的倒数可写为3/6,2/6,6/6。(3 2 6)即用来表示这个晶面。由此得出的这些指数只说明关于晶面的几何关系，而对原子在晶面上的分布或类型并未涉及。另一方面，一组密勒指数,例如(3 2 6)，不仅描述一个晶面，而且描述所有与之平行的晶面。例如截距为4、6和2的平面必定和图1所示平面平行，并可证明其密勒指数也是(3 2 6)。
图2示出立方晶系的一些重要晶面。其中指数为 0表示平行于某一晶轴的晶面，与该轴相交于无限远;而一个晶面与晶轴交于负向时,则在指数上方画一短横线表示。对于晶体学相同而只是取向不同的一族晶面，用另一种括号,如｛100｝表示所有的立方体面,包括(100),(ī00),(010)，(0ī0)，(001)和(00ī)各晶面。
点阵的晶向用方括号表示。标定时，先通过原点沿此方向作一直线，然后根据晶胞边长确定此直线上一点的坐标,如x＝a,y＝-2b，z=c/3。晶向指数就是和这些坐标成正比的最小整数〔3宮1〕。在立方晶系中晶向总是和具有相同指数的晶面相垂直，如〔111〕垂直于(111)，等同的晶向族，如〔100〕,〔010〕,〔001〕,〔ī00〕，〔0ī0〕和〔00ī〕用<100>表示。
六方晶系中除密勒指数外,往往使用另一种密勒-布喇菲法。六方对称性要求四个坐标轴（图3），三根轴x、y、u在底面上,并沿密排方向互呈120°夹角，第四根轴则垂直于底面。箭头指向为轴的正方向,按x、y、u、z 顺序测出晶面在这四个轴上的截距,可定出其密勒-布喇菲指数为（hkil）,而且i＝-(h+k),或h+k+i＝0。图4示出六方晶系的一些重要晶面。容易证明,(10ī0)面就是密勒指数表示的(100)面。六方晶系的晶向同样可用三指数密勒系(图4)或四指数密勒-布喇菲系表示。
图2示出立方晶系的一些重要晶面。其中指数为 0表示平行于某一晶轴的晶面，与该轴相交于无限远;而一个晶面与晶轴交于负向时,则在指数上方画一短横线表示。对于晶体学相同而只是取向不同的一族晶面，用另一种括号,如｛100｝表示所有的立方体面,包括(100),(ī00),(010)，(0ī0)，(001)和(00ī)各晶面。
点阵的晶向用方括号表示。标定时，先通过原点沿此方向作一直线，然后根据晶胞边长确定此直线上一点的坐标,如x＝a,y＝-2b，z=c/3。晶向指数就是和这些坐标成正比的最小整数〔3宮1〕。在立方晶系中晶向总是和具有相同指数的晶面相垂直，如〔111〕垂直于(111)，等同的晶向族，如〔100〕,〔010〕,〔001〕,〔ī00〕，〔0ī0〕和〔00ī〕用<100>表示。
六方晶系中除密勒指数外,往往使用另一种密勒-布喇菲法。六方对称性要求四个坐标轴（图3），三根轴x、y、u在底面上,并沿密排方向互呈120°夹角，第四根轴则垂直于底面。箭头指向为轴的正方向,按x、y、u、z 顺序测出晶面在这四个轴上的截距,可定出其密勒-布喇菲指数为（hkil）,而且i＝-(h+k),或h+k+i＝0。图4示出六方晶系的一些重要晶面。容易证明,(10ī0)面就是密勒指数表示的(100)面。六方晶系的晶向同样可用三指数密勒系(图4)或四指数密勒-布喇菲系表示。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条