1) Conductive atomic force microscopy
导电原子力显微镜
1.
We report a study of tip artifacts in conductive atomic force microscopy images of thin dielectric films.
对导电原子力显微镜在介质层电流图像检测中存在的假像进行了研究。
2.
In this dissertation, we choose the molecules with different chain length and end groups, and give them a in-depth exploratory research by conductive atomic force microscopy (CAFM) and scan.
本论文将以不同链长和不同末端基团的硫醇分子自组装膜为研究对象，借助导电原子力显微镜(CAFM)和扫描隧道显微镜(STM)，对其电输运性质进行较为深入的探索性研究。
2) Conducting atomic force microscopy
导电原子力显微镜
1.
The electronic transport properties of the alkanethiol self-assembled monolayer(SAM)with various terminal groups on Au(111)surfaces have been investigated by the conducting atomic force microscopy(CAFM).
在金(111)表面组装了具有不同末端基团的硫醇单层分子膜,并利用导电原子力显微镜研究了分子膜的电输运性质,发现不同末端基团的分子自组装膜的导电能力有明显差别。
3) Conducting atomic force microscope(C-AFM)
导电原子力显微镜(C-AFM)
4) conductive atomic force microscope
导电型原子力显微镜
1.
Using conductive atomic force microscope on carbon nanotube networks
碳纳米管网络导电特征的导电型原子力显微镜研究
6) atomic force microscope
原子力显微镜
1.
Researching crystal defects with atomic force microscope;
利用原子力显微镜研究晶体缺陷
2.
The diamond surface microstructures investigated by atomic force microscope;
原子力显微镜在金刚石表面微结构分析中的应用
3.
Study of DNA damage induced by potassium dichromate and glutathione with atomic force microscope;
重铬酸钾和谷胱甘肽作用致小牛胸腺DNA损伤的原子力显微镜研究
补充资料：原子力显微镜
| 原子力显微镜 atomic force microscope 一种可用来研究包括绝缘体在内的固体材料表面结构的分析仪器。它通过检测待测样品表面和一个微型力敏感元件之间的极微弱的原子间相互作用力来研究物质的表面结构及性质。将一对微弱力极端敏感的微悬臂一端固定，另一端的微小针尖接近样品，这时它将与其相互作用，作用力将使得微悬臂发生形变或运动状态发生变化。扫描样品时，利用传感器检测这些变化，就可获得作用力分布信息，从而以纳米级分辨率获得表面结构信息。它主要由带针尖的微悬臂 、微悬臂运动检测装置、监控其运动的反馈回路、使样品进行扫描的压电陶瓷扫描器件、计算机控制的图像采集、显示及处理系统组成。微悬臂运动可用如隧道电流检测等电学方法或光束偏转法、干涉法等光学方法检测，当针尖与样品充分接近相互之间存在短程相互斥力时，检测该斥力可获得表面原子级分辨图像，一般情况下分辨率也在纳米级水平。AFM测量对样品无特殊要求，可测量固体表面、吸附体系等。 |
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参考词条