1) Flatness Error
平面度误差
1.
Application of the Next GPS Operation Technology in Flatness Error Evaluation;
新一代GPS操作技术在平面度误差评定中的应用
2.
The least square method of flatness error based on Excel;
基于Excel的平面度误差最小二乘法评定
3.
The algorithm of least regional method for measuring flatness error;
一种使用最小包容区域法基于旋转变换求解平面度误差的方法
2) plane error
平面度误差
1.
In order to get the value of the plane error, we can analyse the measuring data by the means of revolving under the minimum rule.
平面度误差测量中常采用旋转法处理数据,使之符合最小条件,从而计算出平面度误差,但手工处理过程复杂,工作量大。
2.
In order to get the value of the plane error,we can ana ly se the measuring data by the means of revolving under the minimum rule.
平面度误差测量中常采用旋转法处理数据,使之符合最小条件,从而计算出平面度误差。
3) Error phase plane
误差相平面
4) Error field
平面误差场
5) error of parallelism
平行度误差
1.
This paper has discussed the problem of the error of parallelism between the two used mirrors during establishing the fictitious length standard.
主要讨论在构建虚拟基线场的过程中所遇到的两反射镜面的平行度误差的影响问题,通过分析计算并前瞻可行的措施,在理论上证明了微小的平行度误差不会影响虚拟基线场的构建。
6) Parallelism error
平行度误差
1.
The authors proposed a mathematical model and the process program for evdluation of orientation least area value of parallelism error for line to line.
提出了线对线平行度误差定向最小区域评定的数学模型及其微机处理程序。
2.
This paper seeks another solution to the algorithm of the linear parallelism error and makes the algorithm of the linear parallelism error converge toward minimum area by moving outer cylinder axis to shorten its diameter constantly.
在空间直线平行度误差计算中另辟途径,通过移动包容小圆柱的中轴线,不断将包容柱的直径下降,从而使空间直线平行度误差的计算向"最小区域"收敛。
补充资料：长度计量技术：平面度测量
长度计量技术中对平面度误差的测量。平面是由直线组成的﹐因此直线度测量中直尺法﹑光学準直法﹑光学自準直法﹑重力法等也适用於测量平面度误差。测量平面度时﹐先测出若干截面的直线度﹐再把各测点的量值按平面度公差带定义(见形位公差)利用图解法或计算法进行数据处理即可得出平面度误差。也有利用光波干涉法和平板涂色法测量平面误差的。光波干涉法常利用平晶进行﹐图 用平晶测量平面得到的干涉条纹 
为测量所得的不同干涉条纹。图中a 用平晶测量平面得到的干涉条纹 的干涉条纹是直的﹐而且间距相等﹐只在周边上稍有弯曲。这说明被检验表面是平的﹐但与光学平晶不平行﹐而且在圆周部分有微小的偏差。图中b 用平晶测量平面得到的干涉条纹 的干涉条纹弯曲而且间隔不相等﹐表明被检验表面是球形的﹐平晶有微小倾斜。条纹弯曲度约为条纹间距的1.5倍﹐表示平面度误差为1.5×0.3μm=0.45μm。图中c 用平晶测量平面得到的干涉条纹 的干涉条纹呈圆形﹐同样表明被检验表面是球形表面。将条纹数目乘以所用光束波长的一半﹐即得所求的平面误差为1.5×0.3μm=0.45μm。图中d 用平晶测量平面得到的干涉条纹 的干涉条纹成椭圆形排列﹐说明被检验表面是桶形的。可以把干涉图案作为被检验表面的等高线﹐因此可以画出该表面的形状。这种方法仅适宜测量高光洁表面﹐测量面积也较小﹐但测量精确度很高。
为测量所得的不同干涉条纹。图中a 用平晶测量平面得到的干涉条纹 的干涉条纹是直的﹐而且间距相等﹐只在周边上稍有弯曲。这说明被检验表面是平的﹐但与光学平晶不平行﹐而且在圆周部分有微小的偏差。图中b 用平晶测量平面得到的干涉条纹 的干涉条纹弯曲而且间隔不相等﹐表明被检验表面是球形的﹐平晶有微小倾斜。条纹弯曲度约为条纹间距的1.5倍﹐表示平面度误差为1.5×0.3μm=0.45μm。图中c 用平晶测量平面得到的干涉条纹 的干涉条纹呈圆形﹐同样表明被检验表面是球形表面。将条纹数目乘以所用光束波长的一半﹐即得所求的平面误差为1.5×0.3μm=0.45μm。图中d 用平晶测量平面得到的干涉条纹 的干涉条纹成椭圆形排列﹐说明被检验表面是桶形的。可以把干涉图案作为被检验表面的等高线﹐因此可以画出该表面的形状。这种方法仅适宜测量高光洁表面﹐测量面积也较小﹐但测量精确度很高。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条