1) hologram diffraction
全息衍射技术
1.
With the good penetrability of laser under any complexions,this device use laser hologram diffraction.
利用激光在任何情况下仍具有的良好的穿透性能,采用激光全息衍射技术,在事故现场为逃生的人员导引出口或安全的方向,起到帮助被困人员自救的作用。
2) X-ray diffraction
衍射技术
1.
The introduction of several X-ray diffraction techniques;
介绍几种X射线衍射技术
3) self-diffracted holography
自衍射全息
4) XRD diffraction
XRD衍射技术
1.
By XRD diffraction and electron microscopy TEM tests,Fe-Ni alloy phase and morphological characterization of its whisker are analyzed.
用XRD衍射技术和TEM电镜测试手段,进行了合成Fe-Ni合金的物相分析和晶须形貌的表征。
5) holographic technique
全息技术
1.
By the development of the holographic technique, now there is a new method for the fabrication of a lens ,name the Holography optical Element(H,O,E)it also name as holographic lens.
由于全息技术的发展,出现了全息光学元件(HOE)也称为全息透镜。
6) holography
[英][həu'lɔgrəfi] [美][hə'lɑgrəfɪ]
全息技术
1.
Real-value Encryption for Optical Security System Based on Holography;
基于全息技术的光学加密系统实值编码
2.
A new encrypted in-line holographic watermarking technique is proposed based on double-random phase encoding method,holography and digital watermarking.
在研究数字全息技术的基础上,提出了一种新的加密的同轴全息数字水印方法。
3.
Computer-generated holography is a hot point study in recent years,which combines the advanced computer technology and optical holography technology together.
计算机生成全息图技术将计算机技术与全息技术结合在一起,是近年来研究的热点。
补充资料：X射线衍射技术
X射线衍射技术
X-ray diffraction techniques
X 3hex一on yansheJ一shux射线衍射技术(x一ray diffraetion tech-niques)用X射线照射晶体产生衍射从而测定晶体结构的技术一912年M.劳厄(Max von Laue)发现X射线与物质作用在晶格处产生衍射现象。1913年W.H.布拉格(WIlliam Henry Bragg)在仔细研究劳厄提出的理论之后，创立了衍射理论，成为晶体结构分析的基础。当波长为几的X射线，射到间距为d的点阵平面上，掠射角为6(见图)，当满足以~Zdsin6条‘‘.J、..‘ 甘件时，则将在反射方向上得到因.加而加强的衍射线。这便是著名的布拉格公式，式中n为整数。X射线衍射技术的荃本任务是记录.面X射线衍射示意图和测t衍射花样，目前主要有照相和扫描法两种。照相法所用仪器是X射线衍射相机，扫描法为X射线衍射仪.测t衍射峰位置和形状，可得到晶胞的尺寸(点阵参数和d值)、晶形和晶体取向，提供微晶和发生应变的点阵畸变信息。测量峰高度或峰轮廓线下的面积，得到各峰相对强度，可提供晶胞中原子位里的数据.X射线衍射技术主要有劳厄法、旋转晶体法和粉末法等三种方法。劳厄法所用X射线为波长范围很宽的连续谱，用于测定单晶取向和某些对称要素。旋转晶体法的试样也为单晶，使用单色X射线。由于可取得更宽的角度范围，通常用于分析晶体结构。粉末法「即多晶体法或德拜一谢乐(Debye一Scherrer)法j，试样为无规则取向的晶体粉末组合，用于物相分析. 在电力工业中，X射线衍射技术主要用于金属碳化物、腐蚀产物、水中沉淀物、水垢及灰粉的物相分析和金属残余应力测蚤等，有的如碳化物结构分析方法已发展成为电厂金属监督的常规方法。 物相分析的荃本原理是，某种物质的粉末衍射花样反映该物质的特征，具有固定的一组晶面间距d值和各衍射峰相对强度。与标准数据对比即可用检索定出被测物质的相成分。金属X射线应力测量是通过测定金属内部某特定晶面间距，从无应力至有应力的变化值，来确定金属表面应力。X射线衍射仪法测定应力公式:口~Eeot(2氏一2民)2(1+。)sinZ必，式中E为杨氏模t一为泊松比.必为试样面法向与晶面法向夹角;2氏和2民各为沪二0’及沪~45。时的衍射角。 用于X射线衍射分析的X射线衍射仪已广泛应用于物相分析并成为金属监督的常规手段，当配有专用计算机时，可将全部标准数据输人进行自动检索代替人工得出分析结果。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条